摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-18页 |
1.1 电子调束探测器发展现状与趋势 | 第10-14页 |
1.1.1 基于塑料闪烁体的单电子调束探测器的工作原理 | 第11-13页 |
1.1.2 加速器弱流测试简介 | 第13-14页 |
1.2 本课题研究背景及意义 | 第14-15页 |
1.3 本课题主要研究内容及拟解决的问题 | 第15-17页 |
1.4 本章小结 | 第17-18页 |
第二章 单电子调束探测器的构成 | 第18-32页 |
2.1 塑料闪烁体和PMT | 第18-19页 |
2.2 探测器设计和制作 | 第19-22页 |
2.3 数据获取系统 | 第22-24页 |
2.4 DCTB-加速器设备布局 | 第24-29页 |
2.4.1 可调节狭缝机构 | 第26-27页 |
2.4.2 靶升降机构 | 第27-29页 |
2.5 真空检漏 | 第29-30页 |
2.6 本章小节 | 第30-32页 |
第三章 电子在塑料闪烁体中的发光模拟 | 第32-34页 |
第四章 探测器刻度和性能测试 | 第34-43页 |
4.1 实验测试平台 | 第34-35页 |
4.2 XP1912 PMT噪声 | 第35-37页 |
4.3 PMT增益刻度 | 第37-39页 |
4.4 能量响应测试 | 第39-42页 |
4.5 本章小结 | 第42-43页 |
第五章 单电子调束应用 | 第43-67页 |
5.1 加速器调束系统 | 第43页 |
5.2 初步束流调束 | 第43-47页 |
5.2.1 检测触发信号 | 第44-45页 |
5.2.2 确认探头入射面是否对准束流方向 | 第45-46页 |
5.2.3 确认束流是否打偏 | 第46-47页 |
5.3 确定束流调束系统 | 第47-52页 |
5.3.1 噪声测试 | 第49-51页 |
5.3.2 207Bi单电子放射源能量响应测试 | 第51-52页 |
5.4 电子数计算方法 | 第52-53页 |
5.5 第二次束流调束 | 第53-57页 |
5.5.1 207Bi能量标定 | 第53-55页 |
5.5.2 第二次束流调束结果 | 第55-57页 |
5.6 束流调束结果 | 第57-61页 |
5.7 狭缝实验 | 第61-63页 |
5.8 栅极电压实验 | 第63-64页 |
5.9 借助SID探测器对靶室内束流进行标定 | 第64-67页 |
第六章 总结与展望 | 第67-70页 |
项目进展情况 | 第67页 |
总结 | 第67-68页 |
展望 | 第68-70页 |
参考文献 | 第70-75页 |
致谢 | 第75-77页 |
攻读学位期间取得的研究成果 | 第77页 |