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特高压交流气体绝缘开关设备的电磁瞬态特性研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第1章 绪论第15-25页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第15-18页
    1.2 国内外研究现状第18-22页
        1.2.1 TEV测量第18-19页
        1.2.2 TEV波形特性第19页
        1.2.3 GIS设备元件的建模第19-21页
        1.2.4 VFTO、TEV仿真计算第21-22页
    1.3 论文主要工作第22-25页
第2章 瞬态外壳电压测量装置的研制第25-47页
    2.1 TEV定义及测量要求第25-29页
        2.1.1 TEV定义及测量布线第25-27页
        2.1.2 TEV典型波形特征和测量要求第27-29页
    2.2 TEV测量装置的研制第29-33页
        2.2.1 测量方法第29-30页
        2.2.2 测量装置构成第30-33页
        2.2.3 测量装置工作流程第33页
    2.3 TEV测量装置的性能测试及电磁兼容与绝缘耐压试验第33-39页
        2.3.1 工频与雷击冲击电压测试试验第34-35页
        2.3.2 带宽与方波响应测试试验第35-36页
        2.3.3 屏蔽效能测试试验第36-38页
        2.3.4 电磁兼容与绝缘耐压试验第38页
        2.3.5 TEV测量装置主要性能参数第38-39页
    2.4 测量/接地屏蔽电缆长度的选取第39-46页
        2.4.1 TEV测量装置的等效电路第39-40页
        2.4.2 屏蔽电缆的等效电路第40-43页
        2.4.3 屏蔽电缆长度的选取第43-46页
    2.5 本章小结第46-47页
第3章 1000kV特高压交流气体绝缘开关设备中瞬态外壳电压特性第47-79页
    3.1 TEV特性试验与测量布置第47-51页
        3.1.1 1000kV特高压交流GIS设备试验回路及TEV测量点布置第47-49页
        3.1.2 TEV试验内容与测量第49-51页
    3.2 TEV波形特征第51-64页
        3.2.1 统计分析方法第51页
        3.2.2 全过程波形第51-54页
        3.2.3 单脉冲波形第54-57页
        3.2.4 幅值第57-62页
        3.2.5 沿外壳分布特征第62-64页
    3.3 击穿电压、VFTO与TEV的关联性第64-73页
        3.3.1 击穿电压与VFTO和TEV的关系第64-65页
        3.3.2 TEV与VFTO的相关性第65-66页
        3.3.3 击穿电压与过冲电压、VFTO和TEV的幅值关系第66-73页
    3.4 TEV典型波形及其参数定义第73-77页
        3.4.1 TEV典型波形第73-76页
        3.4.2 TEV典型波形参数的统计特性第76-77页
    3.5 本章小结第77-79页
第4章 1000V特高压交流气体绝缘开关设备的VFTO和TEV联合建模与仿真第79-110页
    4.1 GIS设备主要元件的宽频等效电路模型第79-95页
        4.1.1 建模思想第79-85页
        4.1.2 GIS管母线第85-89页
        4.1.3 绝缘法兰第89-90页
        4.1.4 隔离开关第90-92页
        4.1.5 GIS套管第92-93页
        4.1.6 L型和T型管母线第93-94页
        4.1.7 架空线及线圈类负载第94-95页
    4.2 接地支柱和接地网的宽频等效电路模型第95-99页
        4.2.1 接地支柱第95-97页
        4.2.2 接地网第97-99页
    4.3 VFTO和TEV联合仿真模型第99-103页
        4.3.1 多导体传输线模型第100-102页
        4.3.2 VFTO和TEV联合仿真模型第102-103页
    4.4 VFTO和TEV联合仿真分析第103-109页
        4.4.1 TEV和VFTO仿真计算第104-105页
        4.4.2 TEV仿真计算结果第105-107页
        4.4.3 VFTO仿真计算结果第107-109页
    4.5 本章小结第109-110页
第5章 TEV和VFTO的影响因素及抑制措施第110-118页
    5.1 TEV和VFTO的影响因素分析第110-116页
        5.1.1 仿真计算条件第110-111页
        5.1.2 绝缘法兰处电磁泄漏第111-112页
        5.1.3 GIS套管处电磁泄漏第112-113页
        5.1.4 隔离开关的阻尼电阻第113-114页
        5.1.5 GIS分支母线长度第114-115页
        5.1.6 GIS管母线波阻抗第115页
        5.1.7 GIS接地支柱第115-116页
        5.1.8 GIS设备对地高度第116页
    5.2 TEV和VFTO的抑制措施第116-117页
    5.3 本章小结第117-118页
第6章 结论与展望第118-120页
参考文献第120-129页
攻读博士学位期间发表的论文及其它成果第129-130页
攻读博士学位期间参加的科研工作第130-131页
致谢第131-132页
作者简介第132页

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