石英晶振相关特性的研究及边沿效应的应用
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外背景和现状 | 第16页 |
| 1.3 未来的发展趋势 | 第16-18页 |
| 1.4 文章主要章节介绍 | 第18页 |
| 1.5 本章小结 | 第18-19页 |
| 第二章 石英晶体振荡器的主要性能 | 第19-31页 |
| 2.1 石英晶体谐振器的工作原理 | 第19-22页 |
| 2.1.1 石英晶体的物理特性 | 第19-20页 |
| 2.1.2 石英晶体的压电效应 | 第20页 |
| 2.1.3 石英晶体谐振器制作流程 | 第20-21页 |
| 2.1.4 石英晶体的等效电路 | 第21-22页 |
| 2.2 晶体振荡器的主要参数 | 第22-24页 |
| 2.3 常见晶振类型 | 第24-27页 |
| 2.3.1 按晶体切型分类 | 第24-25页 |
| 2.3.2 按晶体补偿类型分类 | 第25-27页 |
| 2.4 影响晶振频率的要素 | 第27-28页 |
| 2.5 晶振主振电路 | 第28页 |
| 2.6 本章小结 | 第28-31页 |
| 第三章 恒温晶振的老化特性研究 | 第31-41页 |
| 3.1 晶振老化漂移的特性 | 第31-33页 |
| 3.1.1 老化现象及原因分析 | 第31-32页 |
| 3.1.2 老化规律研究 | 第32-33页 |
| 3.2 老化漂移模型 | 第33-37页 |
| 3.2.1 老化漂移的线性描述和对数描述 | 第33-34页 |
| 3.2.2 建模前数据预处理 | 第34-36页 |
| 3.2.3 建立老化预测模型 | 第36页 |
| 3.2.4 老化预测模型的验证和改进 | 第36-37页 |
| 3.3 恒温晶振的老化漂移补偿 | 第37-40页 |
| 3.3.1 恒温晶振的压控特性 | 第37-38页 |
| 3.3.2 老化补偿方案 | 第38-39页 |
| 3.3.3 补偿结果分析 | 第39-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 晶体振荡器的相位噪声研究 | 第41-51页 |
| 4.1 相位噪声的来源 | 第41-45页 |
| 4.1.1 电噪声 | 第41-42页 |
| 4.1.2 放大器噪声 | 第42-44页 |
| 4.1.3 谐振电路的噪声 | 第44-45页 |
| 4.2 低相位噪声的石英晶体振荡器电路 | 第45-49页 |
| 4.2.1 主振电路 | 第46-47页 |
| 4.2.2 功率放大电路 | 第47页 |
| 4.2.3 滤波电路 | 第47-49页 |
| 4.3 结果分析 | 第49页 |
| 4.4 本章小结 | 第49-51页 |
| 第五章 边沿效应的理论基础 | 第51-55页 |
| 5.1 测量分辨率及模糊区 | 第51-52页 |
| 5.1.1 测量分辨率及分辨率的稳定性 | 第51页 |
| 5.1.2 模糊区及其边沿 | 第51-52页 |
| 5.2 晶体振荡器的边沿效应 | 第52-54页 |
| 5.3 本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 晶振边沿效应的应用 | 第55-69页 |
| 6.1 传统的SC切单晶体振荡电路 | 第55-57页 |
| 6.2 改进后的双晶体振荡器 | 第57-61页 |
| 6.2.1 晶体滤波器的分析 | 第57-59页 |
| 6.2.2 压缩谐振谱线 | 第59-61页 |
| 6.2.3 双晶体的配合 | 第61页 |
| 6.3 晶振边沿效应的应用方案 | 第61-66页 |
| 6.3.1 边沿效应控制方案 | 第61-63页 |
| 6.3.2 器件选型与硬件设计 | 第63-66页 |
| 6.4 实验结果与分析 | 第66-68页 |
| 6.4.1 边沿效应引入前后的相位噪声对比 | 第66-67页 |
| 6.4.2 边沿效应引入前后老化率指标的对比 | 第67-68页 |
| 6.4.3 边沿效应引入前后的短期稳定度的对比 | 第68页 |
| 6.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 第七章 全文总结与展望 | 第69-71页 |
| 7.1 全文总结 | 第69页 |
| 7.2 后续工作展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 作者简介 | 第75-76页 |
