基于水平集的平面零件尺寸测量方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第10-13页 |
| 1.3 本文研究内容及章节安排 | 第13-15页 |
| 第二章 基于面阵CCD的平面尺寸测量系统设计 | 第15-19页 |
| 2.1 基于CCD相机的平面尺寸测量系统架构 | 第15页 |
| 2.2 视觉测量系统硬件选型 | 第15-18页 |
| 2.2.1 相机选型 | 第15-16页 |
| 2.2.2 光学系统 | 第16页 |
| 2.2.3 图像采集卡 | 第16页 |
| 2.2.4 光源 | 第16-17页 |
| 2.2.5 照明方式 | 第17-18页 |
| 2.2.6 平面尺寸测量平台 | 第18页 |
| 2.3 本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 相机畸变校正与厚度补偿模型 | 第19-33页 |
| 3.1 相机成像模型 | 第19-23页 |
| 3.1.1 成像中的坐标系 | 第19页 |
| 3.1.2 线性模型 | 第19-22页 |
| 3.1.3 非线性模型 | 第22-23页 |
| 3.2 相机标定 | 第23-29页 |
| 3.2.1 传统标定方法 | 第24页 |
| 3.2.2 标定物选择 | 第24-25页 |
| 3.2.3 标定基本原理 | 第25-28页 |
| 3.2.4 相机标定步骤 | 第28页 |
| 3.2.5 测量位姿校正 | 第28-29页 |
| 3.3 零件厚度误差补偿模型 | 第29-31页 |
| 3.3.1 零件上表面边缘提取 | 第29-30页 |
| 3.3.2 厚度模型转换 | 第30-31页 |
| 3.4 本章小结 | 第31-33页 |
| 第四章 基于角点约束的水平集亚像素边缘检测 | 第33-53页 |
| 4.1 变分水平集的基本原理 | 第33-41页 |
| 4.1.1 曲线演化 | 第33-34页 |
| 4.1.2 水平集方法 | 第34-35页 |
| 4.1.3 变分原理 | 第35-37页 |
| 4.1.4 梯度下降流 | 第37-38页 |
| 4.1.5 数值解法 | 第38-41页 |
| 4.2 角点约束水平集亚像素定位方法 | 第41-48页 |
| 4.2.1 CV模型 | 第42-43页 |
| 4.2.2 LBF模型 | 第43-45页 |
| 4.2.3 角点检测 | 第45页 |
| 4.2.4 角点约束的水平集模型 | 第45-48页 |
| 4.2.5 亚像素边缘检测步骤 | 第48页 |
| 4.3 角点约束水平集方法参数选取 | 第48-52页 |
| 4.3.1 二值化阈值的选取 | 第49-50页 |
| 4.3.2 离散差分步长 | 第50-51页 |
| 4.3.3 权重系数 | 第51-52页 |
| 4.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 实验结果与分析 | 第53-65页 |
| 5.1 相机标定结果 | 第53-54页 |
| 5.2 基于角点约束的水平集亚像素边缘检测实验 | 第54-59页 |
| 5.2.1 亚像素边缘检测精度对比实验 | 第54-56页 |
| 5.2.2 角点约束的水平集亚像素边缘检测 | 第56-59页 |
| 5.3 厚度补偿实验 | 第59-63页 |
| 5.4 本章小结 | 第63-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 6.1 本文总结 | 第65页 |
| 6.2 作展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 发表论文和参加科研情况 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
