| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-22页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-15页 |
| ·课题来源 | 第10页 |
| ·霍尔推力器通道中的电离环境 | 第10-13页 |
| ·霍尔推力器通道中的光谱诊断 | 第13-14页 |
| ·多谱线光谱诊断方法的提出 | 第14-15页 |
| ·国内外研究现状及分析 | 第15-19页 |
| ·霍尔推力器光谱诊断的研究现状分析 | 第15-18页 |
| ·霍尔推力器电离机理的研究现状分析 | 第18-19页 |
| ·论文的主要内容及章节安排 | 第19-22页 |
| 第2章 霍尔推力器通道内的碰撞过程及光辐射模型 | 第22-36页 |
| ·惰性气体能级的形成及能级之间的跃迁 | 第22-26页 |
| ·Kr 的能级耦合过程 | 第22-24页 |
| ·Kr 的能级跃迁机制 | 第24-26页 |
| ·亚稳态原子在电离和激发过程中的作用 | 第26-28页 |
| ·碰撞激发、电离的截面 | 第28-31页 |
| ·碰撞截面的概念及分类 | 第28-29页 |
| ·碰撞截面的获得 | 第29-31页 |
| ·通道等离子体的光谱辐射模型 | 第31-34页 |
| ·等离子体中的各种碰撞过程 | 第31-33页 |
| ·建立光谱辐射模型 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第3章 通道中的光辐射陷阱效应 | 第36-49页 |
| ·通道中光辐射陷阱效应的估计 | 第36-39页 |
| ·光辐射陷阱效应的形成原理 | 第36-37页 |
| ·通道中光辐射陷阱效应影响的估计 | 第37-39页 |
| ·光辐射陷阱效应对碰撞截面的影响 | 第39-40页 |
| ·光辐射陷阱效应对2p→1s 跃迁中分支系数的影响 | 第40-45页 |
| ·阳极工质流量变化引起分支系数比值的变化 | 第40-44页 |
| ·阳极工质流量变化引起亚稳态吸收光子比例的变化 | 第44-45页 |
| ·消除光辐射陷阱效应影响的方法 | 第45-48页 |
| ·通道中等离子体的压强 | 第45-46页 |
| ·截面数据的选取和能级布居数的应用 | 第46-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第4章 通道内等离子体参数的多谱线计算方法 | 第49-64页 |
| ·通道电离参数的多谱线诊断方法 | 第49-54页 |
| ·双谱线诊断方法及其缺陷 | 第49-51页 |
| ·多谱线诊断方法的提出 | 第51-54页 |
| ·电子温度的计算方法 | 第54-59页 |
| ·利用探针结果对光谱法定标 | 第59-62页 |
| ·多谱线法定标的原理 | 第59-61页 |
| ·多谱线法实验定标过程 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第5章 多谱线法的不确定度分析 | 第64-85页 |
| ·光学测量系统的定标与不确定度分析 | 第64-80页 |
| ·谱线测量系统对强度测量值的影响 | 第64-66页 |
| ·光学测量系统的定标 | 第66-71页 |
| ·测量强度受积分参数的影响 | 第71-76页 |
| ·测量时间不确定度 | 第76-80页 |
| ·电子温度分布函数的影响分析 | 第80-83页 |
| ·常用的电子温度分布函数 | 第80-81页 |
| ·电子温度分布函数对电子激发速率的影响 | 第81-83页 |
| ·本章小结 | 第83-85页 |
| 结论 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-93页 |
| 附录 | 第93-110页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第110-112页 |
| 致谢 | 第112-113页 |
| 个人简历 | 第113页 |