钙稳定氧化锆陶瓷的制备及其导电性能研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第1章 文献综述 | 第10-19页 |
| ·前言 | 第10页 |
| ·氧化锆与离子导电机理 | 第10-15页 |
| ·氧化锆的应用 | 第10-11页 |
| ·氧化锆的结构 | 第11-13页 |
| ·ZrO_2基固体电解质及其离子电导机理 | 第13-15页 |
| ·ZRO_2陶瓷的制备方法 | 第15-16页 |
| ·ZrO_2粉体的制备方法 | 第15页 |
| ·氧化锆陶瓷的成型 | 第15-16页 |
| ·氧化锆陶瓷的烧结 | 第16页 |
| ·钙稳定氧化锆陶瓷的研究 | 第16-17页 |
| ·钙稳定氧化锆的研究进展 | 第16页 |
| ·钙稳定氧化锆陶瓷的离子导电 | 第16-17页 |
| ·钇稳定氧化锆的缺陷 | 第17页 |
| ·主要研究内容与创新点 | 第17-19页 |
| 第2章 CSZ 陶瓷的制备及表征 | 第19-36页 |
| ·实验方法 | 第19-22页 |
| ·实验原料 | 第19页 |
| ·仪器与设备 | 第19-20页 |
| ·实验配方设计 | 第20页 |
| ·实验流程 | 第20-22页 |
| ·表征方法 | 第22-24页 |
| ·CSZ 粉体激光粒度分析 | 第22页 |
| ·CSZ 陶瓷致密度和显气孔率 | 第22-23页 |
| ·CSZ 陶瓷物相分析 | 第23页 |
| ·CSZ 陶瓷微观形貌分析 | 第23-24页 |
| ·结果与讨论 | 第24-34页 |
| ·CSZ 粉体粒径分析 | 第24-25页 |
| ·CSZ 陶瓷致密度和开口气孔率 | 第25-28页 |
| ·CaO 添加量对致密度的影响 | 第25-26页 |
| ·烧成温度对致密度的影响 | 第26-27页 |
| ·开口气孔率分析 | 第27-28页 |
| ·CSZ 陶瓷物相分析 | 第28-32页 |
| ·CaO 添加量对物相的影响 | 第28-30页 |
| ·烧成温度对物相的影响 | 第30-32页 |
| ·CSZ 陶瓷微观形貌分析 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第3章 CSZ 陶瓷的电性能研究 | 第36-52页 |
| ·基本原理 | 第36页 |
| ·电解质和电极的准备 | 第36-37页 |
| ·等效电路分析和交流阻抗测试 | 第37-42页 |
| ·交流阻抗测试 | 第37-41页 |
| ·等效电路分析 | 第41-42页 |
| ·固体氧化物中的电导理论 | 第42-43页 |
| ·离子电导 | 第42-43页 |
| ·电子电导 | 第43页 |
| ·结果讨论与分析 | 第43-50页 |
| ·CSZ 陶瓷的电导率 | 第43-47页 |
| ·CaO 添加量对 CSZ 陶瓷的电导率的影响 | 第44页 |
| ·烧结温度对 CSZ 陶瓷的电导率的影响 | 第44-45页 |
| ·物相对 CSZ 陶瓷的电导率的影响 | 第45-46页 |
| ·晶粒与晶界对 CSZ 陶瓷的电导率的影响 | 第46-47页 |
| ·CSZ 陶瓷的电导活化能 | 第47-49页 |
| ·提高 CSZ 陶瓷电导率的方法 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 第4章 结论 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 攻读硕士期间已发表的论文 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
