大面积均匀纳米薄膜检测技术
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
目录 | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第7-14页 |
·引言 | 第7-8页 |
·PMMA的基本性质 | 第8-9页 |
·PMMA薄膜制备简介 | 第9-10页 |
·国内外的研究现状及主要研究内容 | 第10-11页 |
·本论文研究的目的和意义 | 第11-12页 |
·本文的主要内容及研究成果 | 第12-14页 |
第二章 超声雾化技术原理 | 第14-24页 |
·超声雾化技术发展和现状 | 第14页 |
·超声雾化技术的原理 | 第14-18页 |
·超声雾化法制备PMMA薄膜的原料要求与工艺 | 第18-19页 |
·加热源设计及温度控制 | 第19-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
第三章 不同工艺参数下生成薄膜的形貌检测 | 第24-34页 |
·表征手段 | 第24页 |
·衬底温度对PMMA薄膜的形貌和沉积速率的影响 | 第24-27页 |
·衬底到端口的距离薄膜性能的影响 | 第27-30页 |
·干燥热处理对薄膜的影响 | 第30-32页 |
·本章小结 | 第32-34页 |
第四章 薄膜厚度的测量 | 第34-42页 |
·薄膜厚度的测量方法 | 第34-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第五章 总结与展望 | 第42-43页 |
·总结 | 第42页 |
·展望 | 第42-43页 |
致谢 | 第43-44页 |
参考文献 | 第44-45页 |