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大面积均匀纳米薄膜检测技术

摘要第1-5页
Abstract第5-6页
目录第6-7页
第1章 绪论第7-14页
   ·引言第7-8页
   ·PMMA的基本性质第8-9页
   ·PMMA薄膜制备简介第9-10页
   ·国内外的研究现状及主要研究内容第10-11页
   ·本论文研究的目的和意义第11-12页
   ·本文的主要内容及研究成果第12-14页
第二章 超声雾化技术原理第14-24页
   ·超声雾化技术发展和现状第14页
   ·超声雾化技术的原理第14-18页
   ·超声雾化法制备PMMA薄膜的原料要求与工艺第18-19页
   ·加热源设计及温度控制第19-23页
   ·本章小结第23-24页
第三章 不同工艺参数下生成薄膜的形貌检测第24-34页
   ·表征手段第24页
   ·衬底温度对PMMA薄膜的形貌和沉积速率的影响第24-27页
   ·衬底到端口的距离薄膜性能的影响第27-30页
   ·干燥热处理对薄膜的影响第30-32页
   ·本章小结第32-34页
第四章 薄膜厚度的测量第34-42页
   ·薄膜厚度的测量方法第34-41页
   ·本章小结第41-42页
第五章 总结与展望第42-43页
   ·总结第42页
   ·展望第42-43页
致谢第43-44页
参考文献第44-45页

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