开关电源中光耦合器故障监测系统的设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·研究意义 | 第9页 |
| ·故障监测和诊断技术的发展 | 第9-11页 |
| ·论文主要工作及安排 | 第11-13页 |
| 第二章 光耦合器的退化和开关电源瞬态响应 | 第13-22页 |
| ·光耦合器 | 第13-15页 |
| ·光耦合器工作过程 | 第13-14页 |
| ·光耦合器在开关电源中的应用 | 第14-15页 |
| ·光耦合器退化机理 | 第15-18页 |
| ·CTR 表征模型 | 第15-17页 |
| ·光耦退化机理 | 第17-18页 |
| ·开关电源的瞬态响应 | 第18-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 开关电源及光耦合器监测电路的仿真 | 第22-41页 |
| ·光耦合器的电学特性 | 第22-23页 |
| ·含光耦开关电源系统建模及仿真 | 第23-28页 |
| ·开关电源模型建立 | 第23-26页 |
| ·电源仿真结果 | 第26-28页 |
| ·电源系统的脉冲响应及其与 CTR 的关系 | 第28-33页 |
| ·开关电源瞬时脉冲响应仿真 | 第28-30页 |
| ·脉冲响应与 CTR 的关系 | 第30-33页 |
| ·光耦合器退化监测电路设计 | 第33-39页 |
| ·监测电路结构 | 第33-34页 |
| ·脉冲注入器 | 第34页 |
| ·波形整形电路 | 第34-39页 |
| ·监测电路仿真结果 | 第39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 监测系统的硬件设计及实现 | 第41-53页 |
| ·实际电源的脉冲响应 | 第41-45页 |
| ·实验电源的选择 | 第41-42页 |
| ·脉冲发生电路 | 第42-43页 |
| ·电源脉冲响应 | 第43-45页 |
| ·监测系统的整体设计 | 第45-48页 |
| ·系统设计原则 | 第45-46页 |
| ·信号放大电路 | 第46-47页 |
| ·整形电路及计数器 | 第47-48页 |
| ·监测系统的整体设计及实现 | 第48-51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第五章 CTR 与方波序列的关系确定及分析 | 第53-59页 |
| ·CTR 与 N 的映射关系 | 第53-55页 |
| ·一般退化方式 | 第53页 |
| ·CTR 与 N 的映射关系 | 第53-55页 |
| ·结果分析 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 总结与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 附件 | 第66页 |
