正比计数管及其屏蔽层厚度的Monte Carlo（MCNP）研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外的研究现状 | 第9-13页 |
| ·本文的研究工作 | 第13-14页 |
| 第二章 中子探测技术 | 第14-19页 |
| ·中子的特点 | 第14页 |
| ·中子与物质的相互作用 | 第14-15页 |
| ·中子的慢化与探测技术 | 第15-16页 |
| ·中子的慢化 | 第15页 |
| ·中子的探测原理和方法 | 第15-16页 |
| ·中子探测器 | 第16-19页 |
| ·中子探测器的种类 | 第16-17页 |
| ·正比计数管及其工作原理 | 第17-18页 |
| ·正比计数管的性能参数 | 第18页 |
| ·正比计数管的优点 | 第18-19页 |
| 第三章 蒙特卡洛方法及MCNP介绍 | 第19-27页 |
| ·蒙特卡洛方法简介 | 第19-21页 |
| ·蒙特卡洛方法的基本原理及理论依据 | 第19-20页 |
| ·蒙特卡洛方法解决粒子输运问题的主要步骤 | 第20-21页 |
| ·蒙特卡洛方法的优点与不足 | 第21页 |
| ·MCNP介绍 | 第21-24页 |
| ·MCNP的特点 | 第21-22页 |
| ·MCNP的发展历史 | 第22-23页 |
| ·MCNP的结构和工作流程 | 第23-24页 |
| ·MCNP处理粒子输运的有关问题 | 第24-27页 |
| ·MCNP处理粒子输运问题 | 第24-25页 |
| ·MCNP误差的估计 | 第25页 |
| ·MCNP效率因素 | 第25页 |
| ·减小方差的技巧 | 第25-27页 |
| 第四章 正比计数管探测效率的MCNP模拟 | 第27-39页 |
| ·正比计数管的MCNP模拟 | 第27-31页 |
| ·输入文件的结构 | 第27页 |
| ·正比计数管的模拟 | 第27-31页 |
| ·模拟数据结果 | 第31-38页 |
| ·点源的数据与分析 | 第31-34页 |
| ·面源的数据与分析 | 第34-35页 |
| ·球面源的数据与分析 | 第35-36页 |
| ·点源直线排列式数据与分析 | 第36-37页 |
| ·点源焦面排列式数据与分析 | 第37-38页 |
| ·模拟数据结果结论 | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39-41页 |
| 附录 A | 第41-49页 |
| 附录 B | 第49-50页 |
| 附录 C | 第50-51页 |
| 附录 D | 第51-52页 |
| 附录 E | 第52-53页 |
| 附录 F | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第55-56页 |
