| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第1章 引言 | 第8-12页 |
| ·物理背景 | 第8页 |
| ·课题目的和意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-10页 |
| ·论文的研究内容和结构安排 | 第10-12页 |
| 第2章 监测方法与仪器探测下限的检测 | 第12-21页 |
| ·天然放射性气溶胶对测量的干扰 | 第12-14页 |
| ·氡、钍子体气溶胶的形成 | 第12-13页 |
| ·氡、钍子体的辐射特性 | 第13-14页 |
| ·氡、钍子体对测量的影响 | 第14页 |
| ·消除天然放射性气溶胶的方法 | 第14-19页 |
| ·能量甄别法 | 第14-17页 |
| ·衰变测量法 | 第17-18页 |
| ·α/β比值法 | 第18页 |
| ·假符合测量法 | 第18-19页 |
| ·放射性气溶胶监测仪的探测限及检验方法 | 第19-21页 |
| ·探测限 | 第19-20页 |
| ·仪器探测限的检测方法 | 第20-21页 |
| 第3章 能量甄别法研究 | 第21-45页 |
| ·对影响补偿系数 K 值的影响因素研究 | 第21-26页 |
| ·滤纸表面吸收特性对补偿系数 K 值的影响 | 第21-24页 |
| ·取样速率对 K 值的影响 | 第24-25页 |
| ·采样时间对补偿系数 K 的影响 | 第25页 |
| ·氡、钍子体α谱形的漂移对 K 值的影响 | 第25-26页 |
| ·补偿系数 K 的修正 | 第26-29页 |
| ·估算钍子体α气溶胶的活度浓度及对补偿系数 K 的影响 | 第29-34页 |
| ·快速测量钍子体α放射性气溶胶的方法 | 第29-33页 |
| ·对钍子体α气溶胶的理论计算 | 第33-34页 |
| ·对探测下限影响因素的研究 | 第34-45页 |
| ·天然放射性α气溶胶活度计算 | 第34-35页 |
| ·天然放射性氡子体对测量的干扰 | 第35-36页 |
| ·探测下限及影响因素的计算 | 第36-45页 |
| 第4章 基于能量甄别法主要电路设计 | 第45-52页 |
| ·探测器的选择 | 第45-47页 |
| ·金硅面垒探测器偏置电压随温度变化测试 | 第45-46页 |
| ·离子注入式半导体探测器偏置电压随温度变化测试 | 第46-47页 |
| ·前置电荷灵敏放大器 | 第47-48页 |
| ·主放大器 | 第48页 |
| ·A/D 变换及数据处理电路 | 第48-52页 |
| 第5章 实验验证 | 第52-60页 |
| ·对两种计算钍子体α气溶胶方法的验证 | 第52-54页 |
| ·快速测量钍子体α气溶胶的方法 | 第52-53页 |
| ·对钍子体α气溶胶的理论计算 | 第53-54页 |
| ·小结 | 第54页 |
| ·对探测下限影响因素的实验 | 第54-58页 |
| ·补偿系数 K 对探测下限的影响实验 | 第54-56页 |
| ·取样流量对探测下限的影响实验 | 第56页 |
| ·取样探测时间对探测下限的影响实验 | 第56-58页 |
| ·小结 | 第58页 |
| ·对仪器的探测下限的检测 | 第58-60页 |
| ·探测下限检测 | 第58-59页 |
| ·小结 | 第59-60页 |
| 第6章 结论 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第65页 |