摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
目录 | 第8-11页 |
第一章 绪论 | 第11-27页 |
·引言 | 第11-17页 |
·薄膜材料 | 第11-12页 |
·透明导电薄膜 | 第12-17页 |
·ZnO 简介 | 第17-21页 |
·ZnO 薄膜的晶体结构 | 第17-18页 |
·ZnO 薄膜的基本物理性质 | 第18-19页 |
·ZnO 薄膜的光电性质 | 第19-20页 |
·ZnO 薄膜的其他性质 | 第20-21页 |
·ZnO 基透明导电薄膜的应用 | 第21-23页 |
·透明电极 | 第22页 |
·红外反射膜 | 第22-23页 |
·面发热膜 | 第23页 |
·掺杂 ZnO 薄膜研究进展 | 第23-25页 |
·ZnO:Al 薄膜的研究现状 | 第23-24页 |
·ZnO:Eu 薄膜的研究现状 | 第24-25页 |
·立题依据以及研究内容 | 第25-27页 |
第二章 ZnO 薄膜的制备技术及相关测试方法 | 第27-33页 |
·ZnO 薄膜的制备方法 | 第27-29页 |
·磁控溅射法(Magnetron Sputtering) | 第27页 |
·脉冲激光沉积(Pulsed Laser Deposition) | 第27-28页 |
·喷雾热解法(Spray Pyrolysis) | 第28页 |
·分子束外延(Molecular Bean Epitaxy) | 第28页 |
·溶胶-凝胶法(Sol-Gel) | 第28-29页 |
·金属有机物化学气相沉积(Metal-Organic Chemical Vapor Deposition) | 第29页 |
·电子束蒸发(Electron-Beam Evaporation) | 第29页 |
·ZnO 薄膜的测试方法 | 第29-33页 |
·霍尔效应测试 | 第29-30页 |
·X 射线衍射(XRD) | 第30-31页 |
·光致发光谱(PL) | 第31页 |
·透射谱(Transmission Spectra) | 第31-33页 |
第三章 实验设备及原理、薄膜制备过程 | 第33-41页 |
·EBE 实验机制 | 第33-37页 |
·实验设备 | 第37-38页 |
·实验方案 | 第38-41页 |
·实验靶材的制备 | 第38-39页 |
·衬底清洗 | 第39页 |
·薄膜沉积 | 第39-41页 |
第四章 石英衬底上生长 ZnO:Al 薄膜的特性分析 | 第41-50页 |
·预沉积缓冲层对 ZnO:Al 薄膜各方面性能的影响 | 第41-46页 |
·结构性能 | 第42-44页 |
·电学性能 | 第44页 |
·光学性能 | 第44-45页 |
·小结 | 第45-46页 |
·Al 掺杂浓度对 ZnO:Al 薄膜各方面性能的影响 | 第46-50页 |
·结构性能 | 第46页 |
·电学性能 | 第46-48页 |
·光学性能 | 第48页 |
·小结 | 第48-50页 |
第五章 石英衬底上生长 ZnO:Eu 薄膜的特性分析 | 第50-57页 |
·引言 | 第50-51页 |
·实验过程 | 第51页 |
·实验结果与分析 | 第51-57页 |
第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
·总结 | 第57-58页 |
·工作展望 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-66页 |
致谢 | 第66-68页 |
硕士期间发表的论文 | 第68页 |