激光表面淬火的相变硬化宽度实时检测控制研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 插图索引 | 第11-13页 |
| 插表索引 | 第13-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-24页 |
| ·激光表面淬火概述 | 第14-16页 |
| ·激光表面淬火基本原理和特点 | 第14-15页 |
| ·激光表面淬火研究应用与发展 | 第15-16页 |
| ·高温测量技术与温度场检测方法 | 第16-18页 |
| ·高温测量技术简述 | 第17页 |
| ·基于数字图像处理的温度场检测 | 第17-18页 |
| ·工业过程控制和 PID 控制方法 | 第18-20页 |
| ·工业过程控制概述 | 第18-19页 |
| ·PID 控制方法 | 第19-20页 |
| ·国内外激光表面淬火过程检测控制的研究现状 | 第20-22页 |
| ·课题的背景、意义和内容 | 第22-24页 |
| ·课题的背景 | 第22页 |
| ·研究的意义 | 第22-23页 |
| ·研究的内容 | 第23-24页 |
| 第2章 激光表面淬火过程温度场检测 | 第24-33页 |
| ·激光表面淬火过程的测温基础 | 第24-26页 |
| ·热辐射基本理论 | 第24-25页 |
| ·比色测温方法 | 第25-26页 |
| ·激光表面淬火过程的 CCD 测温方法 | 第26-29页 |
| ·CCD 工作原理 | 第26-27页 |
| ·彩色 CCD 比色测温原理 | 第27-28页 |
| ·中性滤光片扩大测温范围 | 第28-29页 |
| ·温度场的数字图像处理方法 | 第29-32页 |
| ·实时图像裁剪与缩放 | 第29-30页 |
| ·图像平滑去噪处理 | 第30页 |
| ·阈值分割 | 第30-31页 |
| ·伪彩色处理 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 激光表面淬火过程反馈控制方法 | 第33-41页 |
| ·激光表面淬火过程常规 PID 控制 | 第33-35页 |
| ·常规 PID 控制应用 | 第33-35页 |
| ·控制参数对控制性能的影响 | 第35页 |
| ·激光表面淬火过程神经网络 PID 控制 | 第35-40页 |
| ·神经网络基础 | 第35-36页 |
| ·神经网络 PID 控制 | 第36-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 激光表面淬火过程检测控制系统 | 第41-59页 |
| ·半导体激光加工系统 | 第41-44页 |
| ·CCD 在线检测系统 | 第44-51页 |
| ·CCD 在线检测系统总体结构 | 第44-46页 |
| ·CCD 在线检测系统软件设计 | 第46-51页 |
| ·位移台实时控制系统 | 第51-58页 |
| ·位移台实时控制系统总体结构 | 第51-53页 |
| ·位移台实时控制系统软件设计 | 第53-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 激光表面淬火过程检测控制试验 | 第59-70页 |
| ·试验目的 | 第59页 |
| ·试验材料 | 第59页 |
| ·试验标定 | 第59-60页 |
| ·检测控制试验分析 | 第60-69页 |
| ·侧向检测与同轴检测 | 第60-62页 |
| ·中性滤光片对检测结果的影响 | 第62页 |
| ·工艺参数对检测结果的影响 | 第62-66页 |
| ·工件表面状况的影响 | 第66页 |
| ·相变区域宽度控制 | 第66-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 总结与展望 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 附录 A 攻读学位期间所发表的学术论文 | 第76-77页 |
| 附录 B 攻读学位期间所参与的课题 | 第77页 |
