SRAM的动态故障测试研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-19页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第12-13页 |
| ·存储器测试方法 | 第13-15页 |
| ·直接存取测试 | 第14页 |
| ·宏测试 | 第14-15页 |
| ·内建自测试 | 第15页 |
| ·国内外研究现状及技术难点 | 第15-17页 |
| ·国内外研究概况 | 第15-17页 |
| ·存在的技术难点 | 第17页 |
| ·课题研究工作与论文组织结构 | 第17-19页 |
| 第二章 SRAM 的故障测试技术 | 第19-33页 |
| ·半导体存储器介绍 | 第19-20页 |
| ·SRAM 的结构描述 | 第20-22页 |
| ·SRAM 测试 | 第22-29页 |
| ·存储器模型 | 第22-23页 |
| ·存储器故障模型 | 第23-24页 |
| ·故障模型分类 | 第24-27页 |
| ·存储器测试算法 | 第27-29页 |
| ·测试生成 | 第29-30页 |
| ·测试验证 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 SRAM 存储单元的阻抗性开路故障研究 | 第33-49页 |
| ·SRAM 存储单元结构研究 | 第33-40页 |
| ·SRAM 存储单元外围电路构建 | 第33-35页 |
| ·SRAM 存储单元的读/写操作及尺寸选取 | 第35-40页 |
| ·SRAM 存储单元阻抗性开路故障分析 | 第40-43页 |
| ·缺陷定位 | 第40页 |
| ·缺陷影响分析 | 第40-43页 |
| ·动态读破坏故障的测试与结果分析 | 第43-47页 |
| ·功能故障模型 | 第43-44页 |
| ·仿真建立与结果分析 | 第44-47页 |
| ·其它一些故障的分析研究 | 第47-48页 |
| ·功能故障模型 | 第47页 |
| ·仿真建立与结果分析 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 SRAM 预冲电路的阻抗性开路故障研究 | 第49-59页 |
| ·SRAM 预冲电路 | 第49-50页 |
| ·SRAM 预充电路阻抗性开路故障分析 | 第50-53页 |
| ·缺陷定位 | 第51页 |
| ·缺陷影响分析 | 第51-53页 |
| ·URRF 和 URWF 的测试与结果分析 | 第53-58页 |
| ·功能故障模型 | 第53页 |
| ·仿真建立与结果分析 | 第53-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 总结和展望 | 第59-61页 |
| ·研究工作总结 | 第59页 |
| ·下一步工作建议 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 在学期间发表的学术论文 | 第66页 |
