| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-28页 |
| ·研究的背景和意义 | 第14-16页 |
| ·模拟电路故障分类和诊断方法 | 第16-19页 |
| ·模拟电路故障分类和故障模型 | 第16-18页 |
| ·模拟电路测试的主要任务 | 第18页 |
| ·模拟电路故障诊断方法 | 第18-19页 |
| ·模拟电路故障诊断方法的研究现状 | 第19-23页 |
| ·国外研究现状 | 第19-21页 |
| ·国内研究现状 | 第21-22页 |
| ·神经网络故障诊断方法的局限性 | 第22-23页 |
| ·支持向量机理论发展和应用研究现状 | 第23-26页 |
| ·支持向量机理论研究现状 | 第23-24页 |
| ·支持向量机的特点 | 第24-25页 |
| ·支持向量机的工程应用研究现状 | 第25-26页 |
| ·论文的研究内容 | 第26页 |
| ·论文的结构安排 | 第26-28页 |
| 第二章 模拟电路故障诊断的支持向量机方法研究 | 第28-55页 |
| ·支持向量机 | 第28-36页 |
| ·最优分类超平面 | 第28-31页 |
| ·广义最优分类超平面 | 第31-32页 |
| ·非线性最优分类超平面 | 第32-33页 |
| ·支持向量机 | 第33-34页 |
| ·多分类支持向量机 | 第34-36页 |
| ·模拟电路故障诊断的支持向量机方法 | 第36-38页 |
| ·故障样本的获取 | 第38-40页 |
| ·故障特征提取 | 第38-39页 |
| ·故障特征样本数据预处理 | 第39页 |
| ·样本集构造 | 第39-40页 |
| ·模拟电路故障诊断实例 | 第40-51页 |
| ·Sallen-key电路诊断实例 | 第40-48页 |
| ·硬故障诊断 | 第42-45页 |
| ·软故障诊断 | 第45-48页 |
| ·结果分析 | 第48页 |
| ·双二次滤波器电路诊断实例 | 第48-51页 |
| ·支持向量机性能影响因数分析 | 第51-54页 |
| ·核函数及其参数对SVM性能影响 | 第51-52页 |
| ·惩罚参数C对SVM性能影响 | 第52页 |
| ·多分类SVM的不同组合方法对性能影响 | 第52-53页 |
| ·SVM的参数优化 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第三章 基于MRMR原则和SVM模拟电路故障特征选择方法研究 | 第55-68页 |
| ·特征选择 | 第55-59页 |
| ·特征选择方法 | 第56-57页 |
| ·互信息的定义 | 第57页 |
| ·Parzen窗法 | 第57-59页 |
| ·基于MRMR原则和SVM的故障特征选择方法 | 第59-61页 |
| ·最大相关和最小冗余原则 | 第59-60页 |
| ·基于支持向量机的故障特征选择 | 第60-61页 |
| ·基于MRMR原则和SVM的故障特征选择实例 | 第61-66页 |
| ·本章小结 | 第66-68页 |
| 第四章 基于小波变换的模拟电路故障特征提取方法研究 | 第68-82页 |
| ·小波变换理论 | 第68-72页 |
| ·小波变换定义 | 第68-70页 |
| ·离散小波变换 | 第70页 |
| ·多分辨率分析 | 第70-72页 |
| ·小波变换的模拟电路故障特征提取 | 第72-78页 |
| ·自适应小波变换的故障特征提取 | 第78-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 第五章 基于多重分形分析的模拟电路故障特征提取方法研究 | 第82-95页 |
| ·分形的基本理论 | 第82-85页 |
| ·分形的基本概念 | 第82-83页 |
| ·分形的维数 | 第83-85页 |
| ·多重分形 | 第85-88页 |
| ·多重分形定义 | 第85-87页 |
| ·多重分形奇异谱的小波极大模计算法 | 第87-88页 |
| ·多重分形分析的故障特征提取 | 第88-93页 |
| ·本章小结 | 第93-95页 |
| 第六章 模拟电路的可诊断元件集研究 | 第95-128页 |
| ·基于可测性分析的可诊断元件集 | 第95-102页 |
| ·可测性测度计算 | 第95-97页 |
| ·模糊组定义 | 第97页 |
| ·可测元件 | 第97-98页 |
| ·基于可测性分析的可诊断元件集实例 | 第98-102页 |
| ·可测性分析 | 第98-101页 |
| ·结果验证 | 第101-102页 |
| ·基于零极点灵敏度的可诊断元件集 | 第102-114页 |
| ·灵敏度定义 | 第102-103页 |
| ·零极点灵敏度定义 | 第103-105页 |
| ·基于零极点灵敏度的模糊组定义 | 第105-106页 |
| ·基于零极点灵敏度分析的可诊断元件集实例 | 第106-114页 |
| ·5-RC阶梯电路的零极点灵敏度分析 | 第106-109页 |
| ·Sallen-key电路的零极点灵敏度分析 | 第109-111页 |
| ·基于零极点灵敏度分析结果验证 | 第111-114页 |
| ·基于模糊聚类的可诊断元件集确定方法 | 第114-127页 |
| ·模糊聚类 | 第114-119页 |
| ·模糊C均值聚类算法 | 第116-117页 |
| ·聚类有效性指标 | 第117-119页 |
| ·基于模糊聚类的可诊断元件集 | 第119页 |
| ·基于模糊聚类的可诊断元件集实例 | 第119-127页 |
| ·CTSV滤波器电路模糊聚类分析 | 第119-121页 |
| ·Leapfrog滤波器电路的模糊聚类分析 | 第121-127页 |
| ·本章小结 | 第127-128页 |
| 第七章 结束语 | 第128-131页 |
| ·全文总结 | 第128-130页 |
| ·进一步的工作 | 第130-131页 |
| 致谢 | 第131-132页 |
| 参考文献 | 第132-142页 |
| 攻读博士期间完成的论文和科研成果 | 第142-143页 |
