高精度膜厚控制仪的设计与研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| ·光学薄膜厚度监控研究的现状 | 第7-8页 |
| ·课题来源及研究内容 | 第8-10页 |
| 第二章 膜厚控制仪的原理和总体设计方案 | 第10-16页 |
| ·膜厚控制仪的研制目的和研究内容 | 第10页 |
| ·膜厚控制系统监控原理 | 第10-11页 |
| ·膜厚监控仪的系统设计 | 第11-16页 |
| 第三章 膜厚控制仪的数据采集与数据处理 | 第16-24页 |
| ·膜厚监控仪的系统控制流程 | 第16页 |
| ·数据采集系统 | 第16-19页 |
| ·PCI-6111数据采集卡 | 第19页 |
| ·数据采集系统的数据处理 | 第19-24页 |
| 第四章 膜厚控制仪监控系统的软件设计 | 第24-32页 |
| ·VC++7.0的选择依据及其监控系统的体系框架 | 第24-26页 |
| ·监控系统的多线程采集与动态存储 | 第26-27页 |
| ·VC++与MATLAB的编程接口 | 第27-29页 |
| ·膜厚监控系统界面设计 | 第29-32页 |
| 第五章 膜厚控制仪的系统调试与实验结果分析 | 第32-43页 |
| ·PCL-6111采集卡的D/A与A/D校正 | 第32-33页 |
| ·PCL-6111数据采集卡的基地址设定 | 第33页 |
| ·关于系统软件的测试 | 第33-34页 |
| ·监控实验及其分析 | 第34-38页 |
| ·薄膜设计实验及其影响膜厚监控的因素分析 | 第38-43页 |
| 结论 | 第43-44页 |
| 致谢 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-46页 |