高速真随机数发生器设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-11页 |
| ·对真随机数发生器的需求 | 第8-9页 |
| ·本文所做的工作 | 第9页 |
| ·本文的课题来源及结构安排 | 第9-11页 |
| ·课题来源 | 第9-10页 |
| ·本文的结构安排 | 第10-11页 |
| 第二章 随机数的基本概念及其发生器的原理 | 第11-26页 |
| ·随机数的基本概念 | 第11-14页 |
| ·随机性 | 第11页 |
| ·不可预测性 | 第11-12页 |
| ·数学方法定义随机数概念 | 第12页 |
| ·随机序列 | 第12页 |
| ·衡量随机序列质量的主要指标 | 第12-13页 |
| ·随机数发生器 | 第13-14页 |
| ·伪随机数发生器的原理 | 第14-19页 |
| ·伪随机数发生器的特性及其应用价值 | 第14页 |
| ·产生伪随机数的常用方法简介 | 第14-19页 |
| ·真随机数发生器的原理 | 第19-24页 |
| ·真随机数发生器的概念和属性 | 第19-20页 |
| ·真随机数源 | 第20页 |
| ·CMOS电路中存在的噪声 | 第20-21页 |
| ·真随机数发生器随机数的产生方法 | 第21-24页 |
| ·采用单端环型振荡器采样法的依据 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 随机序列的测试标准 | 第26-33页 |
| ·随机序列的性能指标 | 第26页 |
| ·随机序列的测试标准 | 第26-30页 |
| ·测试方法的理论基础 | 第26-29页 |
| ·测试基准 | 第29-30页 |
| ·真随机数发生器的测试方法 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 高速真随机数发生器的设计与实现 | 第33-46页 |
| ·基于振荡器采样的真随机数发生器的理论模型 | 第33-34页 |
| ·系统模拟部分设计与实现 | 第34-37页 |
| ·高频振荡器的设计 | 第34-35页 |
| ·高频振荡器的实现 | 第35-37页 |
| ·系统数字部分设计与实现 | 第37-45页 |
| ·数字部分的功能模块划分 | 第37-38页 |
| ·冯-诺伊曼校正器 | 第38-39页 |
| ·Bit-to-word Buffer | 第39页 |
| ·SHA-1杂化器 | 第39-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 仿真验证及性能测试 | 第46-56页 |
| ·模拟部分电路的仿真验证 | 第46-47页 |
| ·数据处理部分功能仿真验证 | 第47页 |
| ·生成随机数序列的质量测试 | 第47-55页 |
| ·随机性检测标准 | 第47-49页 |
| ·随机性测试方案 | 第49-50页 |
| ·随机性检测及结果分析 | 第50-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第六章 全文总结及下一步工作 | 第56-57页 |
| ·全文总结 | 第56页 |
| ·下一步工作 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-59页 |
