| 目录 | 第1-7页 |
| 摘要: | 第7-9页 |
| ABSTRACT: | 第9-11页 |
| 第一章 前言 | 第11-27页 |
| ·液晶显示器发展概述 | 第11-19页 |
| ·液晶显示器的发展优势 | 第11-12页 |
| ·液晶相的物理性质及其作为显示材料的优势 | 第12-14页 |
| ·液晶显示器主要参数 | 第14-16页 |
| ·液晶显示器的显示原理 | 第16-17页 |
| ·液晶取向方法概述 | 第17-19页 |
| ·聚酰亚胺取向膜材料的发展及优势 | 第19-20页 |
| ·取向膜材料的发展 | 第19页 |
| ·聚酰亚胺的特点及其在微电子行业中的应用 | 第19-20页 |
| ·用于取向膜材料的聚酰亚胺分子设计 | 第20-25页 |
| ·液晶分子取向的机理 | 第20-21页 |
| ·主链分子设计途径 | 第21-22页 |
| ·侧链分子设计途径 | 第22-25页 |
| ·论文的主要思想及工作内容 | 第25-27页 |
| 第二章 实验部分 | 第27-39页 |
| ·实验原料及仪器 | 第27-29页 |
| ·烷氧端基侧链二元胺单体的合成 | 第29-33页 |
| ·4—(3’,5’—二氨基苯甲酸苯酚酯基)苯甲酸(4"—正丁氧基)苯酚酯(BCDA)的合成 | 第29-31页 |
| ·4—(3’,5’—二氨基苯甲酸苯酚酯基)苯甲酸(4"—正辛氧基)苯酚酯(OCDA)的合成 | 第31-33页 |
| ·二元胺及各中间体的表征 | 第33页 |
| ·傅立叶红外光谱(FTIR) | 第33页 |
| ·核磁共振氢谱(~1H—NMR) | 第33页 |
| ·熔点测定(mp) | 第33页 |
| ·薄层色谱(TLC)对产物纯度的测试 | 第33页 |
| ·聚酰亚胺(P1)的合成 | 第33-34页 |
| ·聚酰亚胺及薄膜性能测试 | 第34-37页 |
| ·特性黏数测试 | 第34-35页 |
| ·溶解性能测试 | 第35页 |
| ·热性能测试 | 第35页 |
| ·表面张力的测试 | 第35-36页 |
| ·衰减全反射红外光谱(ATR—FTIR)测试表面官能团 | 第36页 |
| ·X射线光电子能谱(XPS)测试表面元素组成 | 第36-37页 |
| ·原子力显微镜(AFM)测试表面形貌 | 第37页 |
| ·预倾角测试 | 第37-39页 |
| ·液晶盒的制作 | 第37页 |
| ·液晶盒预倾角的测试 | 第37-38页 |
| ·液晶盒预倾角稳定性研究 | 第38-39页 |
| 第三章 结果与讨论 | 第39-68页 |
| ·烷氧端基二元胺单体的合成 | 第39-51页 |
| ·合成路线选择 | 第39-40页 |
| ·BCDA及其中间体合成中需注意的问题及中间体表征 | 第40-47页 |
| ·OCDA的合成与表征 | 第47-51页 |
| ·侧链型PI性质研究 | 第51-57页 |
| ·PI的特性黏数 | 第52页 |
| ·PI的溶解性 | 第52-53页 |
| ·PI的热性能 | 第53-57页 |
| ·侧链和不同处理工艺对预倾角及表面张力的影响 | 第57-60页 |
| ·PI侧链含量和类型对预倾角和表面张力的影响 | 第57-59页 |
| ·打磨强度对预倾角的影响 | 第59-60页 |
| ·热处理对预倾角的影响 | 第60页 |
| ·预倾角稳定性的讨论 | 第60-61页 |
| ·表面性质的综合分析 | 第61-66页 |
| ·表面衰减全反射红外光谱对表面官能团的研究 | 第61-63页 |
| ·X射线光电子能谱对表面元素组成的分析 | 第63-65页 |
| ·原子力显微镜(AFM)对PI表面形貌的研究 | 第65-66页 |
| ·预倾角与表面组成及形貌的关系 | 第66-68页 |
| 第四章 结论 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 作者在读期间发表论文 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
