| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·高精度时间频率测量的重要性 | 第8页 |
| ·本论文的主要成果及内容安排 | 第8-10页 |
| ·小结 | 第10-11页 |
| 第二章 常用的频率标准的测量方法 | 第11-29页 |
| ·常用的宽范围频率测量方法 | 第11-15页 |
| ·直接测频法 | 第11-13页 |
| ·多周期同步法 | 第13-15页 |
| ·常用的高精度频率测量方法 | 第15-18页 |
| ·模拟内插法 | 第15-16页 |
| ·游标法 | 第16-18页 |
| ·常用的频率标准的测量方法 | 第18-28页 |
| ·示波器法 | 第18-20页 |
| ·频率误差倍增法 | 第20-21页 |
| ·差拍法 | 第21-22页 |
| ·频差倍增-多周期法 | 第22-24页 |
| ·时差法 | 第24-25页 |
| ·相位比较法 | 第25-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第三章 相位重合理论在频率测量仪器中的应用及其缺陷 | 第29-43页 |
| ·最大公因子频率，相位重合以及等效鉴相频率的概念 | 第29-42页 |
| ·最大公因子频率以及“相位重合点”的基本特征 | 第29-35页 |
| ·等效鉴相频率 | 第35-36页 |
| ·高精度测频原理的实现原理 | 第36-42页 |
| ·小结 | 第42-43页 |
| 第四章 频率合成技术及高精度非标准源实现方案 | 第43-65页 |
| ·频率合成的概念和主要性能指标 | 第43-44页 |
| ·频率合成器的主要性能指标 | 第43-44页 |
| ·频率合成的主要技术 | 第44页 |
| ·直接式频率合成技术 | 第44-47页 |
| ·锁相环频率合成技术 | 第47-52页 |
| ·锁相环(PLL)的基本原理 | 第47-48页 |
| ·锁相环路的相位模型和动态方程 | 第48-49页 |
| ·锁相环路的性能分析 | 第49-51页 |
| ·基本锁相环频率合成 | 第51-52页 |
| ·直接数字频率合成技术 | 第52-61页 |
| ·直接数字频率合成技术原理 | 第52-54页 |
| ·DDS的杂散噪声分析 | 第54-60页 |
| ·抑制DDS杂散的方法 | 第60-61页 |
| ·频率合成技术的比较和方案选择 | 第61-64页 |
| ·各种频率合成技术的性能比较 | 第61-63页 |
| ·方案选择以及课题要求 | 第63-64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 第五章 利用DDS设计高精度非标准频率源 | 第65-85页 |
| ·DDS芯片的选择 | 第65-66页 |
| ·AD9852介绍 | 第66-73页 |
| ·AD9852的主要性能 | 第67页 |
| ·AD9852工作模式和工作时序 | 第67-71页 |
| ·AD9852的编程控制模式 | 第71-73页 |
| ·DDS硬件电路设计以及软件控制流程 | 第73-79页 |
| ·系统中的噪声和杂散抑制考虑 | 第79-81页 |
| ·测试数据及结果 | 第81-84页 |
| ·小结 | 第84-85页 |
| 第六章 利用高精度非标准频率源设计高分辨率频率计 | 第85-101页 |
| ·相检宽带测频的技术原理 | 第85-90页 |
| ·原理分析 | 第85-88页 |
| ·相检宽带测频原理的延伸及扩展应用 | 第88-90页 |
| ·高分辨率频率计的系统设计 | 第90-96页 |
| ·系统的总体设计方案 | 第90-91页 |
| ·系统工作原理 | 第91页 |
| ·整形单元电路以及输入电路设计 | 第91-93页 |
| ·相位重合点检测单元的电路设计 | 第93-95页 |
| ·频率合成单元电路设计 | 第95-96页 |
| ·微处理器控制部分以及系统的软件流程 | 第96页 |
| ·对相位重合点的讨论以及非标准频率源的应用 | 第96-100页 |
| ·小结 | 第100-101页 |
| 附录 | 第101-103页 |
| 结论 | 第103-105页 |
| 参考文献 | 第105-107页 |
| 致谢 | 第107-109页 |
| 研究生在读期间的研究成果 | 第109页 |