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星载嵌入式计算机系统可靠性技术研究

摘要第1-11页
ABSTRACT第11-12页
第一章 概述第12-20页
   ·课题来源、背景和研究意义第12-13页
     ·课题来源第12页
     ·课题的背景和研究意义第12-13页
   ·星载嵌入式计算机可靠性研究状况第13-17页
     ·星载嵌入式计算机可靠性研究背景第13-15页
     ·星载计算机可靠性存在的问题第15-17页
   ·本论文研究目的和论文主要内容第17-20页
     ·本论文研究目的第17页
     ·本论文主要内容第17-20页
第二章 星载嵌入式计算机可靠性研究内容第20-28页
   ·概述第20-21页
   ·影响星载嵌入式计算机可靠性因素的分析第21-23页
     ·空间环境因素及可靠性措施分析第21-22页
     ·其它因素及可靠性措施分析第22-23页
   ·星载嵌入式计算机可靠性的主要研究内容第23-26页
     ·星载嵌入式计算机可靠性理论第23-25页
     ·星载嵌入式计算机可靠性的工程化实施第25-26页
   ·本章小结第26-28页
第三章 星载嵌入式计算机系统可靠性设计研究第28-48页
   ·星载嵌入式计算机系统原理第28-35页
     ·星载嵌入式计算机系统功能及特点第28-29页
     ·星载嵌入式计算机性能指标第29-31页
     ·星载嵌入式计算机系统组成第31-35页
   ·星载计算机可靠性设计准则第35-37页
   ·星载计算机可靠性建模、可靠性预计与分配第37-43页
     ·星载嵌入式计算机可靠性建模第37-39页
     ·可靠性预计第39-42页
     ·可靠性分配第42-43页
   ·元器件可靠性设计第43-47页
     ·元器件选型第44-46页
     ·元器件筛选第46页
     ·元器件的降额设计第46-47页
   ·本章小结第47-48页
第四章 星载嵌入式计算机可靠性措施研究第48-74页
   ·系统容错方案的设计第48-51页
     ·容错技术概述第48页
     ·系统容错方案第48-51页
   ·计算机抗辐加固技术第51-60页
     ·国产P1750ACPU 辐照试验第52-54页
     ·计算机抗辐照设计第54-60页
   ·大规模CMOS 集成电路抗闩锁设计第60-61页
     ·传统的CMOS 闩锁防护技术第60-61页
     ·CPU 和FPGA 闩锁防护技术第61页
   ·软件在轨可编程设计第61-65页
     ·在轨编程原理第62-64页
     ·可靠性措施第64-65页
   ·电磁兼容设计第65-69页
     ·二次电源的滤波第67-68页
     ·线路板的电磁兼容设计第68-69页
   ·其它可靠性措施第69-73页
     ·软件可靠性设计第69-71页
     ·自主切换设计第71-73页
     ·电源保护和继电器短路保护设计第73页
   ·本章小结第73-74页
第五章 星载嵌入式计算机系统可靠性分析第74-82页
   ·星载计算机系统可靠性分析理论第74-76页
     ·星载计算机系统可靠性分析概述第74-75页
     ·FMEA 分析第75-76页
   ·星载计算机FMEA 分析第76-81页
     ·系统定义第77-78页
     ·系统失效判据第78页
     ·失效分析第78-81页
   ·本章小结第81-82页
第六章 星载嵌入式计算机系统可靠性试验第82-90页
   ·星载计算机可靠性试验概述第82-84页
   ·星载计算机可靠性试验的具体方案第84-87页
     ·ESS 可靠性试验第84-85页
     ·可靠性增长试验第85页
     ·环境模拟试验第85-87页
   ·试验结果第87-89页
     ·ESS 可靠性试验结果第88页
     ·可靠性增长试验情况及结果第88-89页
     ·环境模拟试验结果第89页
   ·本章小结第89-90页
第七章 星载计算机可靠性评定第90-94页
   ·可靠性评定第90-91页
   ·对星载计算机可靠性评定第91-93页
   ·本章小结第93-94页
第八章 结论与展望第94-96页
   ·主要研究结论第94页
   ·主要创新点第94-95页
   ·对进一步研究的展望第95-96页
致谢第96-97页
参考文献第97-102页
学习期间公开发表的学术论文第102页

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