| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-22页 |
| §1.1 磁记录存储的历史及未来展望 | 第8-12页 |
| §1.2 硬盘存储技术原理 | 第12-20页 |
| ·磁记录原理 | 第12-13页 |
| ·交换偏置 | 第13-16页 |
| ·磁记录介质材料 | 第16-20页 |
| §1.3 小结 | 第20页 |
| 参考文献： | 第20-22页 |
| 第二章 薄膜的制备及其性质表征 | 第22-36页 |
| §2.1 薄膜的制备 | 第22-25页 |
| ·溅射技术 | 第22-23页 |
| ·实验设备 | 第23-25页 |
| §2.2 膜厚的测量 | 第25页 |
| §2.3 结构的表征 | 第25-28页 |
| ·X射线衍射(XRD)简介 | 第25-26页 |
| ·高分辨透射电镜(HRTEM) | 第26-28页 |
| §2.4 磁学性质的测量 | 第28-33页 |
| ·铁磁共振(FMR) | 第28-30页 |
| ·振动样品磁强计(VSM) | 第30-33页 |
| ·磁力显微镜(MFM) | 第33页 |
| §2.5 成分的测定 | 第33-34页 |
| ·X射线荧光光谱分析(XFS) | 第33-34页 |
| ·电子能量损失谱(EELS) | 第34页 |
| §2.6 小结 | 第34-35页 |
| 参考文献： | 第35-36页 |
| 第三章 铁磁／反铁磁双层膜中铁磁层的微结构对矫顽力和磁化翻转的影响 | 第36-50页 |
| §3.1 背景介绍 | 第36-37页 |
| §3.2 实验 | 第37-38页 |
| §3.3 结果与分析 | 第38-47页 |
| ·结构分析 | 第38-40页 |
| ·磁性测量的结果分析 | 第40-47页 |
| §3.4 小结 | 第47-48页 |
| 参考文献： | 第48-50页 |
| 第四章 TbFeCo／NiO多层膜的垂直磁各向异性研究 | 第50-57页 |
| §4.1 背景介绍 | 第50-51页 |
| §4.2 实验 | 第51-52页 |
| §4.3 结果与分析 | 第52-56页 |
| ·结构分析 | 第52-53页 |
| ·磁性测量的结果分析 | 第53-56页 |
| §4.4 小结 | 第56页 |
| 参考文献： | 第56-57页 |
| 第五章 高矫顽力Co／Pt多层膜的制备 | 第57-72页 |
| §5.1 背景介绍 | 第57-58页 |
| §5.2 实验 | 第58-59页 |
| §5.3 结果与分析 | 第59-69页 |
| ·结构分析 | 第61-66页 |
| ·磁性测量结果分析 | 第66-69页 |
| §5.4 小结 | 第69-70页 |
| 参考文献： | 第70-72页 |
| 致谢(一) | 第72-73页 |
| 致谢(二) | 第73-74页 |
| 论文独创性声明 | 第74页 |