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光栅型平面光波导波分复用器件的研究

摘要第1-6页
Abstract第6-8页
第一章.绪论第8-25页
 §1.1 目的与意义:光纤通信与波分复用技术第8-10页
 §1.2 波分复用系统概述第10-17页
     ·波分复用系统中的关键器件第11-13页
     ·不同的WDM实现技术及比较第13-17页
 §1.3 波分复用器件的研究现状及发展趋势第17-19页
 §1.4 本论文主要工作及成果第19-20页
 参考文献第20-25页
第二章 光栅型波分复用器件原理及数值计算方法第25-45页
 §2.1 AWG波分复用器件原理第25-27页
 §2.2 EDG波分复用器件原理第27-31页
 §2.3 光波导器件的数值模拟方法第31-43页
     ·有效折射率法第31-32页
     ·束传播方法第32-39页
     ·有限差分法第39-43页
 参考文献第43-45页
第三章 蚀刻衍射光栅波分复用器的性能分析第45-78页
 §3.1 蚀刻衍射光栅的像差分析第45-51页
 §3.2 蚀刻衍射光栅的标量波动分析第51-57页
 §3.3 全内反射结构光栅槽面的衍射效率分析第57-66页
 §3.4 工艺误差对器件性能的影响第66-75页
     ·光栅槽面缺陷对插入损耗的影响第66-70页
     ·相位和振幅误差对串扰的影响第70-75页
 参考文献第75-78页
第四章 光栅型波分复用器件的优化设计第78-101页
 §4.1 大通道数EDG器件的设计第78-84页
 §4.2 EDG器件的频谱平坦化设计第84-88页
 §4.3 平场型EDG器件的设计第88-93页
 §4.4 偏振不敏感AWG器件的设计第93-98页
 参考文献第98-101页
第五章 硅基二氧化硅器件的实验制作第101-129页
 §5.1 PECVD方法沉积氧化硅薄膜第101-110页
     ·PECVD原理第101-105页
     ·氧化硅薄膜沉积工艺第105-110页
 §5.2 光波导的制作第110-118页
 §5.3 蚀刻衍射光栅的实验制作第118-123页
 §5.4 偏振不敏感AWG的实验制作第123-126页
 参考文献第126-129页
第六章 离子交换波导器件的设计与制作第129-154页
 §6.1 概述第129-131页
 §6.2 折射率变化的原因第131-132页
 §6.3 离子交换过程的数值模拟第132-140页
 §6.4 离子交换波导的弯曲损耗第140-144页
 §6.5 K~+-Na~+离子交换工艺第144-148页
 §6.6 离子交换波导器件的制作第148-152页
 参考文献第152-154页
第七章 总结第154-157页
攻读博士期间发表的论文和申请的专利第157-159页
致谢第159页

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