超低旁瓣阵列天线误差理论分析与补偿技术
| 第1章 引言 | 第1-22页 |
| ·天线近场测量技术的简介 | 第10-17页 |
| ·天线近场测量的综述 | 第10页 |
| ·天线近场测量技术的发展阶段 | 第10-12页 |
| ·近场测量技术的研究内容 | 第12-15页 |
| ·国内外近场测量技术的研究现状 | 第15-17页 |
| ·论文选题的意义与背景 | 第17-20页 |
| ·论文的主要成果及结构安排 | 第20-22页 |
| ·论文取得的主要结果 | 第20页 |
| ·论文的章节安排 | 第20-22页 |
| 第2章 基础理论知识 | 第22-32页 |
| ·积分的驻相法 | 第22页 |
| ·单重积分 | 第22页 |
| ·双重积分 | 第22页 |
| ·天线的基本参数 | 第22-23页 |
| ·误差理论 | 第23-25页 |
| ·误差理论的基本概念 | 第23-24页 |
| ·远场测量误差理论 | 第24-25页 |
| ·平面近场测量的基本理论 | 第25-31页 |
| ·综合平面波理论 | 第25-27页 |
| ·频域平面近场测量近远场变换原理 | 第27-28页 |
| ·时域平面近场测量近远场变换原理 | 第28-30页 |
| ·探头补偿原理 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第3章 超低旁瓣天线随机幅相误差的分析 | 第32-46页 |
| ·超低旁瓣天线随机误差的分析 | 第32-34页 |
| ·波谱的离散输出表达式 | 第32-33页 |
| ·旁瓣电平误差与近场随机幅相误差的关系 | 第33-34页 |
| ·随机误差所引起的误差谱的表达式 | 第34-36页 |
| ·仿真数学模型的建立 | 第36-41页 |
| ·半波偶极子阵的近场横向分量的表达式 | 第36-38页 |
| ·近远场变换确定的偶极子阵远场方向图 | 第38-40页 |
| ·半波偶极子阵理论远场方向图 | 第40-41页 |
| ·近场随机幅相误差的仿真 | 第41-44页 |
| ·仿真的数学模型 | 第41页 |
| ·近场随机幅相误差的仿真步骤 | 第41-42页 |
| ·近场随机幅相误差的仿真条件 | 第42页 |
| ·近场随机幅相误差的仿真图形 | 第42-44页 |
| ·结论 | 第44页 |
| ·小结 | 第44-46页 |
| 第4章 有限扫描面截断误差的分析 | 第46-61页 |
| ·近场的数学表达式 | 第46-47页 |
| ·远场误差的数学表达式 | 第47-49页 |
| ·远场误差的上界分析 | 第49-58页 |
| ·有限扫描面截断误差的仿真 | 第58-60页 |
| ·有限扫描面截断误差的仿真步骤 | 第58页 |
| ·有限扫描面截断误差的仿真 | 第58-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 第5章 测试环境散射误差 | 第61-72页 |
| ·多次反射误差的分析 | 第61-67页 |
| ·多次反射的近场误差 | 第62页 |
| ·多次反射远场误差 | 第62-67页 |
| ·微波暗室散射误差的分析 | 第67-71页 |
| ·微波暗室的特性 | 第67-70页 |
| ·暗室散射误差的上界 | 第70-71页 |
| ·小结 | 第71-72页 |
| 第6章 超低旁瓣天线近场测量的误差补偿 | 第72-83页 |
| ·随机幅相误差的补偿方法与仿真 | 第72-74页 |
| ·有限扫描面截断误差的修正方法 | 第74-78页 |
| ·频域的补偿方法 | 第75-76页 |
| ·时域的补偿方法 | 第76-78页 |
| ·修正测试环境散射误差的方法 | 第78-82页 |
| ·减少多次反射误差的方法 | 第79-81页 |
| ·减少微波暗室散射误差的方法 | 第81-82页 |
| ·小结 | 第82-83页 |
| 结论 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-88页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第88-89页 |
| 致谢 | 第89页 |
