基于RT量子器件的数字电路设计
第一章 绪论 | 第1-16页 |
·数字电路设计的基本概念及方法 | 第11-12页 |
·量子电路的研究现状 | 第12-14页 |
·论文的研究重点以及章节安排 | 第14-16页 |
第二章 RT量子器件及单元电路 | 第16-32页 |
·共振隧穿二极管RTD | 第16-22页 |
·共振隧穿二极管的结构 | 第17页 |
·共振隧穿二极管RTD的特性 | 第17-20页 |
·共振隧穿二极管RTD的模拟 | 第20-21页 |
·共振隧穿二极管RTD在电路中的应用 | 第21-22页 |
·共振隧穿三极管RTT | 第22-28页 |
·共振隧穿三极管RTT的结构 | 第23-27页 |
·共振隧穿三极管RTT的特性及模拟 | 第27-28页 |
·MOBILE单元电路 | 第28-31页 |
·MOBILE单元电路结构及模拟 | 第28-30页 |
·MOBILE的工作原理 | 第30-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第二章 基于RT量子器件的二值代数系统实现 | 第32-39页 |
·二值代数系统理论介绍及电路实现 | 第32-34页 |
·基于RT量子器件的二值与非门 | 第34-36页 |
·基于RT量子器件的二值或非门 | 第36-37页 |
·本章小结 | 第37-39页 |
第四章 基于RT量子器件的三值代数系统实现 | 第39-54页 |
·多值逻辑研究现状 | 第39-40页 |
·三值RTD和三值RTT | 第40-42页 |
·三值反相器电路的改进 | 第42-46页 |
·传统RT三值反相器电路 | 第42-43页 |
·开关序列工作原理 | 第43-44页 |
·应用开关序列方法的多值反相器新设计 | 第44-46页 |
·基于RT量子器件的三值与非门、或非门设计 | 第46-52页 |
·三值门电路设计方法 | 第47页 |
·二输入端三值与非门的设计 | 第47-50页 |
·二输入端三值或非门设计 | 第50-52页 |
·基于RT量子器件的文字电路 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第五章 基于RT量子器件的触发器电路设计 | 第54-61页 |
·RS锁存器电路的实现 | 第54-55页 |
·D触发器 | 第55-57页 |
·JK触发器电路的设计 | 第57-60页 |
·JK触发器的设计 | 第57-58页 |
·触发器的直接预置控制 | 第58-60页 |
·本章小节 | 第60-61页 |
第六章 RT电路的可测试性设计 | 第61-70页 |
·故障模型及相应制造测试技术 | 第62-64页 |
·RT电路的基本故障分析与建模 | 第64-66页 |
·RT电路可测试性设计方案 | 第66-69页 |
·本章小结 | 第69-70页 |
第七章 结论和展望 | 第70-72页 |
·论文的主要成果 | 第70-71页 |
·进一步的研究工作 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-77页 |
附录 作者在硕士学习期间获奖及撰写的论文 | 第77-78页 |
致谢 | 第78页 |