| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| ·自组装 | 第8-11页 |
| ·自组装技术 | 第8页 |
| ·自组装基本原理 | 第8-9页 |
| ·纳米自组装薄膜 | 第9-10页 |
| ·空气-水界面氧化物薄膜的研究状况 | 第10-11页 |
| ·蛋白质 | 第11-16页 |
| ·蛋白质的性质 | 第11-12页 |
| ·蛋白质与表面活性剂作用 | 第12-14页 |
| ·蛋白质与SiO_2的相互作用 | 第14-15页 |
| ·蛋白质在自组装氧化物薄膜中的应用 | 第15页 |
| ·酪蛋白 | 第15-16页 |
| ·本文研究目的及主要工作 | 第16-18页 |
| ·研究目的 | 第16-17页 |
| ·主要工作 | 第17-18页 |
| 第二章 空气-水界面SiO_2纳米薄膜的制备及表征 | 第18-36页 |
| ·实验概况 | 第18-21页 |
| ·实验试剂 | 第18页 |
| ·主要仪器设备 | 第18页 |
| ·JEM2100型透射电子显微镜(TEM) | 第18-19页 |
| ·紫外/可见分光光度计(UV-vis) | 第19页 |
| ·X射线衍射(XRD) | 第19-20页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第20页 |
| ·傅里叶变换红外光谱(FT-IR) | 第20页 |
| ·荧光光谱 | 第20页 |
| ·表面张力 | 第20页 |
| ·拉曼光谱 | 第20-21页 |
| ·SiO_2薄膜的制备及表征 | 第21-31页 |
| ·SiO_2薄膜的制备 | 第21-22页 |
| ·SiO_2薄膜的表征与讨论 | 第22-28页 |
| ·SiO_2薄膜自组装体系底物及溶液的表征及讨论 | 第28-31页 |
| ·SiO_2薄膜热处理产物表征 | 第31-34页 |
| ·XRD衍射 | 第31-32页 |
| ·SEM表征 | 第32-33页 |
| ·TEM表征 | 第33页 |
| ·拉曼光谱表征 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第三章 SiO_2薄膜中各组分性质及作用研究 | 第36-52页 |
| ·酪蛋白溶液的性质研究 | 第36-41页 |
| ·表面张力分析 | 第36-37页 |
| ·荧光光谱分析 | 第37-38页 |
| ·UV-vis表征 | 第38-40页 |
| ·FT-IR表征 | 第40页 |
| ·本节小结 | 第40-41页 |
| ·酪蛋白和CTAB的作用研究 | 第41-47页 |
| ·表面张力分析 | 第41-43页 |
| ·荧光光谱分析 | 第43-45页 |
| ·UV-vis表征 | 第45-46页 |
| ·本节小结 | 第46-47页 |
| ·酪蛋白-CTAB在SiO_2薄膜中作用研究 | 第47-50页 |
| ·荧光光谱分析 | 第47页 |
| ·FT-IR分析 | 第47-49页 |
| ·机理探讨 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 第四章 不同蛋白质和阴离子表面活性剂对SiO_2薄膜的影响 | 第52-60页 |
| ·蛋白质对SiO_2薄膜结构的影响 | 第52-55页 |
| ·实验步骤 | 第52-53页 |
| ·XRD表征 | 第53页 |
| ·SEM表征 | 第53-54页 |
| ·TEM表征 | 第54-55页 |
| ·阴离子表面活性剂对SiO_2薄膜的影响 | 第55-58页 |
| ·SiO_2薄膜的制备 | 第55-56页 |
| ·XRD表征 | 第56页 |
| ·SEM表征 | 第56-57页 |
| ·UV-vis表征 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 SiO_2薄膜对TiO_2光催化性能影响研究 | 第60-64页 |
| ·试剂与仪器 | 第60-61页 |
| ·实验过程 | 第61页 |
| ·结果与讨论 | 第61-64页 |
| ·SiO_2薄膜对TiO_2光催化效果影响研究 | 第61-62页 |
| ·热处理SiO_2薄膜产物对TiO_2光催化性能影响研究 | 第62-64页 |
| 全文结论 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
