致谢 | 第1-6页 |
中文摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
序 | 第8-11页 |
1 引言 | 第11-17页 |
·电介质材料的基本概念和高介电常数材料 | 第11-13页 |
·电介质 | 第11页 |
·介电常数 | 第11-13页 |
·介电损耗 | 第13页 |
·CaCu_3Ti_4O_(12)材料的性质及研究现状 | 第13-16页 |
·本课题的研究意义及目的 | 第16-17页 |
2 实验内容和研究方法 | 第17-21页 |
·实验原料及CCTO陶瓷的制备 | 第17-18页 |
·实验原料 | 第17页 |
·制备过程 | 第17-18页 |
·CCTO陶瓷的物相与结构表征 | 第18-19页 |
·物相分析 | 第19页 |
·显微结构观察 | 第19页 |
·CCTO陶瓷的性能测试 | 第19-20页 |
·密度测试 | 第19页 |
·介电常数和介电损耗的测定 | 第19-20页 |
·阻抗谱分析 | 第20页 |
·实验设备和仪器 | 第20-21页 |
3 纯度对CCTO陶瓷材料结构和性能的影响 | 第21-29页 |
·不同纯度CCTO粉体的合成 | 第21-23页 |
·粉体纯度对CCTO陶瓷相组成的影响 | 第23页 |
·粉体纯度对CCTO陶瓷性能的影响 | 第23-26页 |
·粉体纯度对CCTO陶瓷密度的影响 | 第24页 |
·粉体纯度对CCTO陶瓷介电性能的影响 | 第24-26页 |
·粉体纯度对CCTO陶瓷显微结构的影响 | 第26-28页 |
·小结 | 第28-29页 |
4 气氛对CCTO陶瓷材料结构和性能的影响 | 第29-50页 |
·空气、氧气和真空气氛下CCTO粉体的预煅烧 | 第29-34页 |
·空气中合成粉体 | 第29-30页 |
·氧气中合成粉体 | 第30页 |
·真空中合成粉体 | 第30-31页 |
·晶格常数分析计算 | 第31-34页 |
·在空气和氧气中烧结制备CCTO陶瓷 | 第34-38页 |
·不同气氛CCTO陶瓷的密度 | 第34页 |
·不同气氛烧结陶瓷的物相分析 | 第34-36页 |
·晶格常数计算 | 第36-38页 |
·不同气氛制备的CCTO陶瓷材料的介电性能 | 第38-47页 |
·合成粉体气氛对材料介电性能的影响 | 第38-44页 |
·烧结气氛对材料介电性能的影响 | 第44-47页 |
·不同气氛制备的CCTO陶瓷材料的显微结构 | 第47-49页 |
·小结 | 第49-50页 |
5 放电等离子烧结制备CCTO的结构和性能 | 第50-68页 |
·不同烧结条件下材料的收缩过程 | 第50-53页 |
·烧结温度对材料烧结收缩的影响 | 第50-52页 |
·保温时间对材料烧结收缩的影响 | 第52页 |
·升温速率对材料烧结收缩的影响 | 第52-53页 |
·不同烧结条件下CCTO陶瓷的相组成 | 第53-56页 |
·不同烧结条件下CCTO陶瓷的结构与性能 | 第56-67页 |
·烧结温度对CCTO陶瓷材料结构和性能的影响 | 第56-61页 |
·保温时间对CCTO陶瓷材料结构和性能的影响 | 第61-63页 |
·升温速率对CCTO陶瓷材料结构和性能的影响 | 第63-64页 |
·预煅烧合成气氛对CCTO陶瓷材料结构和性能的影响 | 第64-67页 |
·小结 | 第67-68页 |
6 结论 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-71页 |
附录A | 第71-72页 |
索引 | 第72-73页 |
作者简历 | 第73-75页 |
学位论文数据集 | 第75页 |