点阵夹层结构钎焊残余应力计算与测试研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-28页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-13页 |
| 1.2 点阵材料研究进展 | 第13-20页 |
| 1.2.1 简介 | 第13页 |
| 1.2.2 点阵材料的构型 | 第13-15页 |
| 1.2.3 点阵材料的制备工艺 | 第15-20页 |
| 1.3 钎焊残余应力试验测试研究进展 | 第20-23页 |
| 1.3.1 X射线衍射技术 | 第20-21页 |
| 1.3.2 中子衍射技术 | 第21-22页 |
| 1.3.3 纳米压痕技术 | 第22页 |
| 1.3.4 电子背散射衍射技术 | 第22-23页 |
| 1.4 钎焊接头微观结构及性能研究现状 | 第23-26页 |
| 1.5 论文主要内容 | 第26-28页 |
| 第二章 钎焊接头残余应力有限元计算方法的试验验证 | 第28-54页 |
| 2.1 引言 | 第28-29页 |
| 2.2 试样制备 | 第29-31页 |
| 2.2.1 钎焊接头的制备 | 第29-31页 |
| 2.2.2 无应力参考试样的制备 | 第31页 |
| 2.3 钎焊接头界面扩散机理与微观组织结构研究 | 第31-37页 |
| 2.4 钎焊接头残余应力有限元分析 | 第37-39页 |
| 2.4.1 钎焊接头的有限元模型 | 第37-38页 |
| 2.4.2 钎焊接头有限元计算结果 | 第38-39页 |
| 2.5 钎焊接头残余应力试验验证 | 第39-53页 |
| 2.5.1 X射线衍射法试验测试 | 第39-42页 |
| 2.5.2 纳米压痕法试验测试 | 第42-48页 |
| 2.5.3 中子衍射法试验测试 | 第48-50页 |
| 2.5.4 电子背散射衍射法试验测试 | 第50-53页 |
| 2.6 本章小结 | 第53-54页 |
| 第三章 点阵夹层结构钎焊残余应力的有限元分析 | 第54-65页 |
| 3.1 引言 | 第54页 |
| 3.2 钎焊残余应力计算的基本理论 | 第54-55页 |
| 3.3 有限元模拟 | 第55-58页 |
| 3.3.1 分析思路 | 第55-56页 |
| 3.3.2 几何模型及网格划分 | 第56-57页 |
| 3.3.3 材料热物理性能参数 | 第57页 |
| 3.3.4 边界条件及初始条件 | 第57-58页 |
| 3.3.5 温度场及应力场计算 | 第58页 |
| 3.4 结果分析与讨论 | 第58-65页 |
| 3.4.1 温度场分析 | 第58-60页 |
| 3.4.2 应力场及变形分析 | 第60-65页 |
| 第四章 点阵夹层结构钎焊残余应力的影响因素分析 | 第65-74页 |
| 4.1 引言 | 第65页 |
| 4.2 几何参数变化对钎焊残余应力的影响 | 第65-69页 |
| 4.2.1 面板厚度的影响 | 第65-66页 |
| 4.2.2 芯体厚度和宽度的影响 | 第66-68页 |
| 4.2.3 平台宽度的影响 | 第68-69页 |
| 4.3 钎焊工艺对钎焊残余应力的影响 | 第69-73页 |
| 4.3.1 直接加热与分段加热的影响 | 第69-70页 |
| 4.3.2 钎焊保温温度的影响 | 第70-71页 |
| 4.3.3 保温时间的影响 | 第71-72页 |
| 4.3.4 降温速率的影响 | 第72-73页 |
| 4.4 本章小结 | 第73-74页 |
| 第五章 总结与展望 | 第74-77页 |
| 5.1 本文的主要工作和研究结果 | 第74-75页 |
| 5.2 后期工作展望 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-88页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第88-90页 |
| 致谢 | 第90页 |
