| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-20页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第9-12页 |
| 1.1.1 形状记忆聚合物 | 第9-10页 |
| 1.1.2 形状记忆聚合物记忆机理 | 第10-12页 |
| 1.1.3 多组分形状记忆聚合物的记忆机理 | 第12页 |
| 1.2 国内外已建立的形状记忆聚合物本构方程 | 第12-16页 |
| 1.3 国内外文献综述的简析与不足 | 第16-17页 |
| 1.4 本文的主要研究内容 | 第17-20页 |
| 第2章 内应力对SMP自由恢复过程的影响及内部机理 | 第20-30页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 建立内应力为参数的冻结体积分数公式 | 第20-25页 |
| 2.2.1 模型基本假设 | 第20页 |
| 2.2.2 two-site基本理论分析形状记忆聚合物松弛 | 第20-22页 |
| 2.2.3 理论推导过程 | 第22-25页 |
| 2.3 验证冻结体积分数公式及理论分析 | 第25-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 内应力对SMP单轴拉伸过程作用机理及本构 | 第30-54页 |
| 3.1 引言 | 第30页 |
| 3.2 内应力作为参数的形状记忆聚合物单轴拉伸下的本构方程推导 | 第30-41页 |
| 3.2.1 模型基本假设 | 第30-31页 |
| 3.2.2 瞬态理论介绍 | 第31-32页 |
| 3.2.3 模型推导过程 | 第32-41页 |
| 3.3 拉伸模型与真实实验数据对比及理论分析 | 第41-44页 |
| 3.4 瞬态网络理论建立双网络水凝胶大变形下的本构方程与验证 | 第44-52页 |
| 3.4.1 双网络水凝胶特殊性质及发生原理 | 第44-45页 |
| 3.4.2 离子键交联网络的损伤模型 | 第45-47页 |
| 3.4.3 共价键网络在大拉伸损伤模型 | 第47-48页 |
| 3.4.4 单轴拉伸下短链离子键交联网络的模拟并与实验作比较 | 第48-50页 |
| 3.4.5 恢复形变过程的本构及模拟 | 第50-52页 |
| 3.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 第4章 多组分形状记忆聚合物本构及化学驱动作用机理 | 第54-71页 |
| 4.1 引言 | 第54页 |
| 4.2 协作艾林方程理论介绍 | 第54-55页 |
| 4.3 内应力对多组分形状记忆聚合物记忆行为的影响及理论分析 | 第55-66页 |
| 4.4 利用协作艾林方程对溶液驱动形状记忆聚合物温度记忆机理分析 | 第66-69页 |
| 4.5 本章小结 | 第69-71页 |
| 结论 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-81页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83页 |
