数字图像相关亚像素位移测量算法研究
摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第12-20页 |
1.1 研究的目的与意义 | 第12-13页 |
1.2 数字图像相关方法理论研究进展 | 第13-16页 |
1.2.1 国外研究进展 | 第14-15页 |
1.2.2 国内研究进展 | 第15-16页 |
1.3 DIC方法在工程结构变形测量中的应用 | 第16-17页 |
1.3.1 国外应用现状 | 第16-17页 |
1.3.2 国内应用现状 | 第17页 |
1.4 本文的主要研究内容 | 第17-20页 |
第二章 DIC方法测量原理 | 第20-38页 |
2.1 测量及转换系统 | 第20-22页 |
2.1.1 测量系统的组成 | 第20-21页 |
2.1.2 像素-实际位移转换系统 | 第21-22页 |
2.2 基本原理 | 第22-27页 |
2.2.1 相关系数 | 第23-26页 |
2.2.2 位移表征模式 | 第26-27页 |
2.3 相关搜索 | 第27-30页 |
2.3.1 十字搜索法 | 第28页 |
2.3.2 三步搜索法 | 第28-29页 |
2.3.3 遗传算法 | 第29页 |
2.3.4 粗-细搜索法 | 第29-30页 |
2.4 模拟散斑图 | 第30-33页 |
2.4.1 散斑图的制作 | 第30-32页 |
2.4.2 散斑图的评价 | 第32-33页 |
2.5 位移场与应变场测量 | 第33-36页 |
2.5.1 位移场测量 | 第33-34页 |
2.5.2 应变场测量 | 第34-36页 |
2.6 本章小结 | 第36-38页 |
第三章 亚像素位移测量 | 第38-52页 |
3.1 灰度插值 | 第38-42页 |
3.1.1 最邻近域插值 | 第38页 |
3.1.2 双线性插值 | 第38-40页 |
3.1.3 双三次插值 | 第40-41页 |
3.1.4 双三次样条插值 | 第41-42页 |
3.2 常用的亚像素位移测量算法 | 第42-49页 |
3.2.1 曲面拟合法 | 第42-45页 |
3.2.2 梯度法 | 第45-48页 |
3.2.3 N-R法 | 第48-49页 |
3.3 亚像素测量算法比较 | 第49-51页 |
3.3.1 计算精度比较 | 第49-50页 |
3.3.2 计算时间比较 | 第50页 |
3.3.3 抗噪声能力比较 | 第50-51页 |
3.4 本章小结 | 第51-52页 |
第四章 亚像素位移测量改进方法 | 第52-64页 |
4.1 影响因素分析 | 第52-55页 |
4.1.1 计算子区大小 | 第52-53页 |
4.1.2 插值函数 | 第53-54页 |
4.1.3 拟合距离 | 第54页 |
4.1.4 拟合函数 | 第54-55页 |
4.2 梯度-曲面拟合法 | 第55-56页 |
4.3 修正相关系数矩阵的曲面拟合法 | 第56-57页 |
4.4 光流方程迭代梯度法 | 第57-58页 |
4.5 算法试验验证 | 第58-63页 |
4.5.1 计算时间比较 | 第58-60页 |
4.5.2 计算精度比较 | 第60-61页 |
4.5.3 半像素处波动性比较 | 第61-62页 |
4.5.4 灰度变化敏感性比较 | 第62-63页 |
4.5.5 抗噪声能力比较 | 第63页 |
4.6 本章小结 | 第63-64页 |
第五章 数字图像相关方法应用研究 | 第64-76页 |
5.1 基于MATLAB相关的图形界面 | 第64页 |
5.2 模拟平移试验 | 第64-68页 |
5.2.1 试验准备 | 第64-66页 |
5.2.2 结果分析 | 第66-68页 |
5.3 简支钢梁挠度测量 | 第68-70页 |
5.3.1 试验准备 | 第68-69页 |
5.3.2 结果分析 | 第69-70页 |
5.4 橡胶支座应变测量 | 第70-73页 |
5.4.1 试验准备 | 第70-71页 |
5.4.2 结果分析 | 第71-73页 |
5.5 模桥测量 | 第73-75页 |
5.5.1 工程背景 | 第73-74页 |
5.5.2 测量结果 | 第74-75页 |
5.6 本章小结 | 第75-76页 |
结论与展望 | 第76-78页 |
结论 | 第76-77页 |
展望 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-84页 |
致谢 | 第84-86页 |
附录A(攻读学位期间发表论文及参加的项目工作) | 第86页 |