摘要 | 第3-4页 |
ABSTRACT | 第4页 |
第1章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 研究背景及选题意义 | 第9-11页 |
1.1.1 研究背景 | 第9-10页 |
1.1.2 选题意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第11-12页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第12页 |
1.3 XPS的原理及应用 | 第12-13页 |
1.3.1 XPS的原理 | 第12-13页 |
1.3.2 XPS的应用 | 第13页 |
1.4 拉曼光谱(Raman)的原理及相关应用 | 第13-14页 |
1.5 电子能量损失谱(EELS)的原理及相关应用 | 第14-15页 |
1.6 本文主要研究内容 | 第15-17页 |
第2章X射线光电子能谱仪能量标度标准物质的研制 | 第17-37页 |
2.1 引言 | 第17页 |
2.2 标物样品制备 | 第17-19页 |
2.2.1 候选材料选择 | 第17-19页 |
2.2.2 标物样品分装 | 第19页 |
2.2.3 标物样品测量前的表面清洁 | 第19页 |
2.3 标物样品均匀性 | 第19-24页 |
2.3.1 均匀性检验 | 第19-23页 |
2.3.2 单元内均匀性检查 | 第23-24页 |
2.4 标物样品稳定性 | 第24-28页 |
2.4.1 包装与贮存 | 第24-25页 |
2.4.2 稳定性检验 | 第25-28页 |
2.5 标物样品定值 | 第28-34页 |
2.5.1 定值方法 | 第28页 |
2.5.2 定值实验室选择 | 第28页 |
2.5.3 各定值实验室测量结果 | 第28-30页 |
2.5.4 定值数据处理 | 第30-34页 |
2.6 不确定度评定 | 第34-35页 |
2.6.1 不确定度来源分析 | 第34页 |
2.6.2 合成标准不确定度 | 第34-35页 |
2.6.3 扩展不确定度 | 第35页 |
2.6.4 结果表达 | 第35页 |
2.7 与国内外同类标物比较 | 第35-36页 |
2.8 小结 | 第36-37页 |
第3章 典型碳材料的定性与定量分析 | 第37-46页 |
3.1 引言 | 第37页 |
3.2 样品来源与预处理 | 第37-38页 |
3.3 分析测试 | 第38页 |
3.4 碳材料的XPS定性分析 | 第38-40页 |
3.4.1 喷金含量对Au4f7/2结合能峰位的影响 | 第38-39页 |
3.4.2 碳材料的C1s峰位校准及定性分析 | 第39-40页 |
3.5 无定形碳材料的定量分析 | 第40-45页 |
3.5.1 对DLC进行定量分析 | 第40-43页 |
3.5.2 对GLC进行定量分析 | 第43-44页 |
3.5.3 对GC进行定量分析 | 第44-45页 |
3.6 小结 | 第45-46页 |
第4章 核-壳结构纳米颗粒壳层表面化学的XPS测量 | 第46-59页 |
4.1 引言 | 第46页 |
4.2 X射线照射对PET样品的损伤 | 第46-49页 |
4.2.1 仪器与试剂 | 第47页 |
4.2.2 样品制备 | 第47页 |
4.2.3 XPS表征 | 第47页 |
4.2.4 结果与讨论 | 第47-49页 |
4.3 理论及术语 | 第49-50页 |
4.4 f因子数值的求取 | 第50-53页 |
4.4.1 实验样品(PET、Au箔)的合格性检验 | 第50-52页 |
4.4.2 f因子数值的求取 | 第52-53页 |
4.5 A值的获取 | 第53-55页 |
4.5.1 样品制备及XPS表征 | 第53-54页 |
4.5.2 结果与分析 | 第54-55页 |
4.6 B、C值的获取 | 第55-57页 |
4.6.1 壳层(有机层)各元素光电子衰减长度的计算 | 第55-56页 |
4.6.2 核层(核-壳结构纳米颗粒层)各元素电子衰减长度的计算 | 第56页 |
4.6.3 计算B、C | 第56-57页 |
4.7 核-壳结构纳米颗粒表面有机壳层厚度的计算 | 第57-58页 |
4.8 小结 | 第58-59页 |
第5章 结论 | 第59-60页 |
参考文献 | 第60-64页 |
致谢 | 第64页 |