储罐底板不同类型缺陷漏磁场有限元分析与实验研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 前言 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 常规无损检测方法 | 第10-11页 |
| 1.2 磁检测技术的国外发展现状 | 第11-12页 |
| 1.3 漏磁检测技术的国内发展现状 | 第12-14页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第二章 漏磁检测技术的基本理论 | 第15-20页 |
| 2.1 漏磁场的研究方法 | 第15页 |
| 2.2 漏磁检测的基本原理 | 第15-16页 |
| 2.3 漏磁场形成的机理 | 第16-18页 |
| 2.4 漏磁信号 | 第18-19页 |
| 2.5 本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 储罐底板不同类型缺陷漏磁检测有限元分析 | 第20-29页 |
| 3.1 有限元分析在漏磁检测中的应用 | 第20页 |
| 3.2 漏磁场的影响因素 | 第20-21页 |
| 3.3 磁化结构的选择和设计 | 第21-28页 |
| 3.3.1 磁化方法的选择 | 第21-22页 |
| 3.3.2 磁化材料的选择 | 第22-23页 |
| 3.3.3 磁化结构模型 | 第23-24页 |
| 3.3.4 单元体材料属性 | 第24页 |
| 3.3.5 静态磁场分析网格划分 | 第24-25页 |
| 3.3.6 加载和边界条件定义 | 第25-26页 |
| 3.3.7 计算求解和后处理 | 第26-28页 |
| 3.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 储罐底板缺陷影响因素分析 | 第29-39页 |
| 4.1 缺陷深度对漏磁信号的影响 | 第29-30页 |
| 4.2 缺陷直径对漏磁信号的影响 | 第30-32页 |
| 4.3 缺陷形状对漏磁信号的影响 | 第32-35页 |
| 4.3.1 缺陷相切对漏磁信号的影响 | 第32-34页 |
| 4.3.2 缺陷几何形状对漏磁信号的影响 | 第34-35页 |
| 4.4 埋藏缺陷漏磁场分析 | 第35-37页 |
| 4.5 提离值对缺陷漏磁场的影响 | 第37页 |
| 4.6 本章小结 | 第37-39页 |
| 第五章 储罐底板缺陷的漏磁实验研究 | 第39-47页 |
| 5.1 储罐底板缺陷漏磁检测实验系统 | 第39-40页 |
| 5.2 储罐底板缺陷的制备 | 第40-43页 |
| 5.2.1 不同深度缺陷制备 | 第40-41页 |
| 5.2.2 不同宽度缺陷制备 | 第41-42页 |
| 5.2.3 不同倾斜角度缺陷 | 第42-43页 |
| 5.3 漏磁检测实验分析 | 第43-46页 |
| 5.3.1 缺陷深度影响分析 | 第43-44页 |
| 5.3.2 缺陷宽度的影响分析 | 第44页 |
| 5.3.3 缺陷倾斜角度影响分析 | 第44-46页 |
| 5.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 结论 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-52页 |
| 作者简介、发表文章及研究成果目录 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
