| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-21页 |
| 1.1 无芯片射频识别技术的研究背景 | 第17-18页 |
| 1.2 无芯片射频识别技术的发展与现状 | 第18-19页 |
| 1.3 选题意义和本文结构安排 | 第19-21页 |
| 1.3.1 选题意义 | 第19-20页 |
| 1.3.2 结构安排 | 第20-21页 |
| 第二章 射频识别系统基本原理 | 第21-33页 |
| 2.1 电磁场理论 | 第21-22页 |
| 2.2 传输线理论 | 第22-24页 |
| 2.3 微带传输线 | 第24-26页 |
| 2.4 天线 | 第26-27页 |
| 2.4.1 方向系数 | 第26页 |
| 2.4.2 增益 | 第26页 |
| 2.4.3 EIRP与ERP | 第26页 |
| 2.4.4 传输方程 | 第26-27页 |
| 2.5 射频识别系统工作原理 | 第27-28页 |
| 2.6 无芯片射频识别系统基本原理 | 第28-31页 |
| 2.6.1 基于频谱特征的无芯片标签工作原理 | 第28-29页 |
| 2.6.2 无芯片射频识别阅读器的工作原理 | 第29-31页 |
| 2.7 本章总结 | 第31-33页 |
| 第三章 无芯片RFID阅读器的设计 | 第33-61页 |
| 3.1 阅读器系统架构 | 第33-34页 |
| 3.2 阅读器指标分析 | 第34-37页 |
| 3.2.1 阅读器工作频率 | 第34页 |
| 3.2.2 探测信号的类型 | 第34页 |
| 3.2.3 阅读器的收发隔离 | 第34-35页 |
| 3.2.4 无芯片RFID系统的读写距离 | 第35-36页 |
| 3.2.5 阅读器主要指标总结 | 第36-37页 |
| 3.3 射频前端的研究和设计 | 第37-54页 |
| 3.3.1 射频前端的结构和工作流程 | 第37-38页 |
| 3.3.2 发射链路的研究和设计 | 第38-48页 |
| 3.3.3 鉴幅鉴相器模块的研究和设计 | 第48-49页 |
| 3.3.4 参考信号模块的研究和设计 | 第49-51页 |
| 3.3.5 接收链路的研究和设计 | 第51-54页 |
| 3.3.6 射频前端器件列表 | 第54页 |
| 3.4 数字控制部分的设计 | 第54-60页 |
| 3.4.1 数字控制电路结构框图 | 第54-55页 |
| 3.4.2 数字控制部分硬件电路的设计 | 第55-57页 |
| 3.4.3 数字控制部分硬件电路器件列表 | 第57页 |
| 3.4.4 阅读器软件的设计 | 第57-60页 |
| 3.5 阅读器实物图 | 第60页 |
| 3.6 本章总结 | 第60-61页 |
| 第四章 阅读器及无芯片射频识别系统的测试 | 第61-75页 |
| 4.1 阅读器各部分功能测试 | 第61-69页 |
| 4.1.1 探测/参考VCO控制电压、输出频率和输出功率的测试 | 第61-64页 |
| 4.1.2 模拟通道输出端测试 | 第64-66页 |
| 4.1.3 实际输出通道的测试 | 第66-67页 |
| 4.1.4 收发链路隔离度测试 | 第67-68页 |
| 4.1.5 灵敏度测试 | 第68页 |
| 4.1.6 鉴幅鉴相模块的测试 | 第68-69页 |
| 4.2 无芯片射频识别系统测试 | 第69-74页 |
| 4.2.1 目标标签的仿真和测试 | 第70页 |
| 4.2.2 标签的矢量网络分析仪测试 | 第70-73页 |
| 4.2.3 标签的阅读器测试 | 第73-74页 |
| 4.3 本章总结 | 第74-75页 |
| 第五章 无芯片射频识别阅读器关键模块的改进 | 第75-83页 |
| 5.1 锁相环原理 | 第75-76页 |
| 5.2 基于锁相环的频率综合器的设计 | 第76-80页 |
| 5.2.1 ADF5355的工作原理 | 第76-77页 |
| 5.2.2 环路滤波器的设计 | 第77-79页 |
| 5.2.3 ADF5355整体电路的设计 | 第79-80页 |
| 5.3 频率综合器的测试 | 第80-81页 |
| 5.4 本章总结 | 第81-83页 |
| 第六章 总结与展望 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 致谢 | 第89-91页 |
| 作者简介 | 第91-92页 |