| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 无损检测方法简介 | 第9-10页 |
| 1.3 超声Lamb波的国内外的研究现状 | 第10-13页 |
| 1.3.1 阵列形状的设计与优化 | 第10-11页 |
| 1.3.2 成像方法与信号处理的研究 | 第11-13页 |
| 1.4 本文研究内容与研究路线 | 第13-15页 |
| 第2章 超声Lamb波的基本理论 | 第15-23页 |
| 2.1 Lamb的基本特性 | 第15-18页 |
| 2.1.1 超声Lamb的群速度与相速度 | 第15-16页 |
| 2.1.2 频散特性 | 第16-17页 |
| 2.1.3 多模态特性 | 第17-18页 |
| 2.2 检测模态的选择 | 第18-20页 |
| 2.3 导波激励传感器的选择 | 第20-22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 导波检测的实验与模拟方法 | 第23-33页 |
| 3.1 实验系统介绍 | 第23-24页 |
| 3.2 对实验信号的初步处理 | 第24-27页 |
| 3.3 基于ABAQUS有限元方法对Lamb波的模拟研究 | 第27-32页 |
| 3.3.1 导波的激励 | 第27-30页 |
| 3.3.2 建模及网格划分 | 第30-32页 |
| 3.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 椭圆成像算法对孔洞缺陷的实验研究 | 第33-48页 |
| 4.1 椭圆成像算法理论 | 第33-35页 |
| 4.2 压电晶片的布置及频幅特性的影响 | 第35-37页 |
| 4.3 基于方形阵列的椭圆成像算法研究 | 第37-39页 |
| 4.4 基于距离系数对板缺陷的检测研究 | 第39-47页 |
| 4.4.1 定义距离系数 | 第39-43页 |
| 4.4.2 距离系数与成像效果 | 第43-44页 |
| 4.4.3 原因分析 | 第44-47页 |
| 4.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 不同影响因素对实验结果的影响 | 第48-57页 |
| 5.1 阵列类型对实验结果的影响 | 第48-52页 |
| 5.2 缺陷位置对实验结果的影响 | 第52-55页 |
| 5.3 缺陷类型对实验结果的影响 | 第55-56页 |
| 5.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 第6章 结论与展望 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第64页 |