静态随机存取存储器内建自测试电路的研究与设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第8-22页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.1.1 SoC和IP核复用技术 | 第8页 |
| 1.1.2 可测试性设计 | 第8-9页 |
| 1.1.3 存储器的测试 | 第9页 |
| 1.2 存储器的测试方法 | 第9-12页 |
| 1.2.1 直接存取测试 | 第10页 |
| 1.2.2 宏测试 | 第10-11页 |
| 1.2.3 存储器内建则测试(MBIST) | 第11页 |
| 1.2.4 各种测试方法的比较 | 第11-12页 |
| 1.3 MBIST系统 | 第12-20页 |
| 1.3.1 比较器和压缩器 | 第12-14页 |
| 1.3.2 时钟方案 | 第14-16页 |
| 1.3.3 并行测试和串行测试 | 第16-18页 |
| 1.3.4 MBIST全速测试 | 第18-20页 |
| 1.3.5 MBIST电路的优缺点 | 第20页 |
| 1.4 论文的研究内容 | 第20-22页 |
| 第2章 存储器的故障和测试算法 | 第22-29页 |
| 2.1 存储器的类型 | 第22页 |
| 2.2 存储器的故障 | 第22-23页 |
| 2.2.1 故障分类 | 第22-23页 |
| 2.2.2 故障机理 | 第23页 |
| 2.3 存储器的常见故障模型 | 第23-27页 |
| 2.3.1 存储单元阵列故障 | 第24-26页 |
| 2.3.2 周边电路逻辑故障 | 第26-27页 |
| 2.4 存储器的测试算法 | 第27-29页 |
| 2.4.1 算法的复杂度和覆盖率 | 第27页 |
| 2.4.2 存储器测试经典算法 | 第27-29页 |
| 第3章 内建自测试March算法的研究 | 第29-41页 |
| 3.1 March算法 | 第29-31页 |
| 3.1.1 March算法的语法定义 | 第29-30页 |
| 3.1.2 常见的March算法 | 第30-31页 |
| 3.2 SRAM常见故障的分析 | 第31-35页 |
| 3.2.1 单一单元故障分析 | 第32-33页 |
| 3.2.2 双单元故障分析 | 第33-35页 |
| 3.3 March CP算法 | 第35-36页 |
| 3.3.1 算法定义 | 第35页 |
| 3.3.2 算法的故障覆盖率 | 第35-36页 |
| 3.4 March CP算法的电路实现 | 第36-37页 |
| 3.4.1 存储器建模和算法的定义 | 第36-37页 |
| 3.4.2 电路的生成 | 第37页 |
| 3.5 仿真验证 | 第37-41页 |
| 3.5.1 算法仿真 | 第37-38页 |
| 3.5.2 波形描述 | 第38-41页 |
| 第4章 SRAM内建自测试电路的设计 | 第41-50页 |
| 4.1 电路的结构 | 第41-42页 |
| 4.2 工作原理 | 第42-43页 |
| 4.3 分析与比较 | 第43-44页 |
| 4.4 电路的仿真验证 | 第44-50页 |
| 4.4.1 仿真验证 | 第44-46页 |
| 4.4.2 波形描述 | 第46-50页 |
| 第5章 总结与展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 附录1 512x32的SRAM模型 | 第54-56页 |
| 附录2 March CP算法文件 | 第56-58页 |
| 图表目录 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第61页 |
