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少层MoS2薄膜的CVD法制备及其气敏性能研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
1 绪论第11-32页
    1.1 引言第11-18页
        1.1.1 MoS_2的结构第11-13页
        1.1.2 MoS_2的应用第13-18页
    1.2 MoS_2的制备方法第18-25页
        1.2.1“自上而下”的制备方法第19-22页
        1.2.2“自下而上”的制备方法第22-25页
    1.3 MoS_2的气敏性能研究现状第25-29页
    1.4 选题意义及主要研究内容第29-32页
        1.4.1 选题意义第29-30页
        1.4.2 主要研究内容第30-32页
2 实验材料设备及表征技术第32-40页
    2.1 实验试剂及设备第32-34页
        2.1.1 实验试剂第32页
        2.1.2 实验设备第32-34页
    2.2 表征技术第34-40页
        2.2.1 光学显微镜第34-35页
        2.2.2 X射线衍射仪第35-36页
        2.2.3 扫描电子显微镜第36-37页
        2.2.4 拉曼光谱仪第37页
        2.2.5 原子力显微镜第37-38页
        2.2.6 光致发光光谱仪第38-39页
        2.2.7 透射电子显微镜第39-40页
3 CVD法制备MoS_2薄膜第40-64页
    3.1 一步法制备MoS_2薄膜第40-58页
        3.1.1 一步法实验过程第40页
        3.1.2 产物位置分布介绍第40-43页
        3.1.3 不同生长条件对MoS_2薄膜制备的影响第43-51页
        3.1.4 生长原理分析第51-53页
        3.1.5 单层或少层MoS_2薄膜的表征第53-58页
    3.2 两步法制备MoS_2薄膜第58-62页
        3.2.1 两步法实验过程第58-59页
        3.2.2 两步法制备的MoS_2薄膜的表征第59-62页
    3.3 本章小结第62-64页
4 MoS_2的气敏性能研究第64-76页
    4.1 MoS_2气敏器件的制作第64页
    4.2 MoS_2的气敏性能测试第64-70页
        4.2.1 气敏测试系统简介第64-66页
        4.2.2 温度对MoS_2气敏器件的影响第66-67页
        4.2.3 MoS_2气敏器件的选择性第67页
        4.2.4 MoS_2气敏器件的灵敏度第67-70页
        4.2.5 MoS_2气敏器件的响应恢复时间第70页
    4.3 气敏性能的改善方法及改善后的气敏性能第70-75页
        4.3.1 气敏性能的改善方法第70-72页
        4.3.2 MoS_2-Pt气敏器件的选择性第72页
        4.3.3 MoS_2-Pt气敏器件的灵敏度第72-74页
        4.3.4 MoS_2-Pt气敏器件的响应恢复时间第74-75页
    4.4 本章小结第75-76页
5 结论与展望第76-78页
    5.1 结论第76页
    5.2 展望第76-78页
参考文献第78-83页
个人简历及硕士期间发表的论文第83-84页
致谢第84页

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