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用于超导纳米线单光子探测器的低温集成电路研究

摘要第3-5页
英文摘要第5-7页
第一章 绪论第10-35页
    1.1 SNSPD简介第10-12页
    1.2 SNSPD的工作原理第12-14页
    1.3 SNSPD的性能指标第14-19页
        1.3.1 探测效率第15页
        1.3.2 暗计数第15-16页
        1.3.3 时间抖动第16-17页
        1.3.4 最大计数率第17-18页
        1.3.5 其他第18-19页
    1.4 SNSPD的研究方向第19-21页
        1.4.1 提升器件性能第19-20页
        1.4.2 实现光子数分辨第20-21页
        1.4.3 研究物理机制第21页
        1.4.4 进行实际应用第21页
    1.5 SNSPD的读出现状第21-32页
        1.5.1 传统的SNSPD读出电路第22页
        1.5.2 改进的SNSPD读出电路第22-24页
        1.5.3 新型的SNSPD读出电路第24-32页
    1.6 研究目的和意义第32-33页
    1.7 本论文的主要工作第33-35页
第二章 电路元件的温度特性研究第35-51页
    2.1 实验平台搭建第35-37页
        2.1.1 低温环境选择第35-36页
        2.1.2 测量杆设计第36页
        2.1.3 扫描程序编写第36-37页
    2.2 基本电路元件的温度特性测量第37-43页
        2.2.1 电阻第37-39页
        2.2.2 电容第39-41页
        2.2.3 电感第41-43页
    2.3 SiGe HBT的温度特性测量第43-49页
        2.3.1 测量系统第43页
        2.3.2 Tower Jazz工艺中SiGe HBT的温度特性第43-46页
        2.3.3 商用SiGe HBT的温度特性第46-48页
        2.3.4 结果对比与分析第48-49页
    2.4 比例电流源的温度特性测量第49-50页
    本章小结第50-51页
第三章 单端结构50Ω输入阻抗低温电路第51-68页
    3.1 电路基本指标的确定第51-52页
        3.1.1 带宽第51-52页
        3.1.2 增益第52页
        3.1.3 噪声第52页
        3.1.4 功耗第52页
    3.2 电路设计第52-54页
    3.3 仿真结果第54-56页
        3.3.1 增益第54-55页
        3.3.2 输入和输出阻抗第55页
        3.3.3 噪声系数第55-56页
    3.4 测量结果第56-63页
        3.4.1 常温测量结果第56-59页
        3.4.2 低温测量结果第59-63页
    3.5 与SNSPD互连结果第63-67页
    本章小结第67-68页
第四章 单端结构高输入阻抗低温电路第68-92页
    4.1 电路设计第68-72页
    4.2 电路性能调节第72-76页
        4.2.1 电源滤波第72-74页
        4.2.2 二次仿真第74-76页
    4.3 高输入阻抗射频放大器的表征第76-83页
        4.3.1 增益第76-78页
        4.3.2 输入阻抗第78-82页
        4.3.3 其他第82-83页
    4.4 仿真和测量结果第83-89页
        4.4.1 常温仿真与测量结果第83-85页
        4.4.2 低温测量结果第85-88页
        4.4.3 其他第88-89页
    4.5 与SNSPD互连结果第89-91页
    本章小结第91-92页
第五章 差分结构高输入阻抗低温电路第92-102页
    5.1 电路设计第92-95页
    5.2 仿真和测量结果第95-98页
        5.2.1 常温仿真和测量结果第95-97页
        5.2.2 低温测量结果第97-98页
    5.3 与SNSPD互连结果第98-101页
    本章小结第101-102页
第六章 总结与展望第102-104页
    6.1 总结第102-103页
    6.2 展望第103-104页
参考文献第104-111页
博士期间研究成果第111-113页
致谢第113-114页

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