摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
第1章 绪论 | 第13-33页 |
1.1 课题背景及研究目的和意义 | 第13-15页 |
1.2 红外目标探测装置相关技术的发展概况 | 第15-30页 |
1.2.1 无热化设计技术的发展概况 | 第15-23页 |
1.2.2 冷反射分析与抑制技术的发展概况 | 第23-26页 |
1.2.3 调制传递函数测试技术的发展概况 | 第26-30页 |
1.3 本文的主要研究内容 | 第30-33页 |
第2章 红外光学系统的无热化设计方法 | 第33-73页 |
2.1 温度变化对红外光学系统性能的影响 | 第33-39页 |
2.2 密接型红外光学系统的无热化设计方法 | 第39-45页 |
2.2.1 中波红外光学系统的无热图 | 第39-41页 |
2.2.2 密接两镜结构的无热化设计分析 | 第41-43页 |
2.2.3 密接三镜结构的无热化设计分析 | 第43-45页 |
2.3 非密接型红外光学系统的无热化设计方法 | 第45-62页 |
2.3.1 非密接型光学系统的无热图表示方法 | 第45-48页 |
2.3.2 Petzval结构的无热化分析及初始参数求解模型 | 第48-56页 |
2.3.3 Cooke结构的无热化分析及初始参数求解模型 | 第56-62页 |
2.4 中波红外目标探测装置光学系统的无热化设计 | 第62-71页 |
2.4.1 光学系统的设计指标 | 第62-63页 |
2.4.2 基于光阑二次成像的光学系统结构计算方法 | 第63-65页 |
2.4.3 光学系统的设计结果 | 第65-71页 |
2.5 本章小节 | 第71-73页 |
第3章 红外光学系统冷反射的定量分析与抑制方法 | 第73-99页 |
3.1 冷反射效应的基本原理 | 第74-78页 |
3.1.1 冷反射效应的形成条件 | 第74-76页 |
3.1.2 冷反射效应的表征量及其意义 | 第76-78页 |
3.2 冷反射效应的定量分析方法 | 第78-90页 |
3.2.1 序列模式实际光线追迹的冷反射分析方法 | 第78-80页 |
3.2.2 非序列模式实际光线追迹的冷反射分析方法 | 第80-82页 |
3.2.3 红外光学系统冷反射的定量分析结果 | 第82-90页 |
3.3 冷反射效应的抑制方法 | 第90-97页 |
3.3.1 红外光学系统冷反射效应的抑制流程 | 第90-93页 |
3.3.2 红外光学系统冷反射效应的抑制结果 | 第93-97页 |
3.4 本章小结 | 第97-99页 |
第4章 用于系统调制传递函数测试的改进倾斜刃边法 | 第99-123页 |
4.1 调制传递函数的定义 | 第99-100页 |
4.2 调制传递函数的测试方法介绍 | 第100-106页 |
4.2.1 矩形靶标法测试MTF | 第101页 |
4.2.2 点脉冲法测试MTF | 第101-103页 |
4.2.3 狭缝法测试MTF | 第103-104页 |
4.2.4 刃边法测试MTF | 第104-106页 |
4.3 改进的倾斜刃边法 | 第106-111页 |
4.3.1 刃边倾斜角度的测量方法 | 第107-110页 |
4.3.2 边缘扩散函数的构建方法 | 第110-111页 |
4.4 仿真实验验证 | 第111-121页 |
4.4.1 仿真实验的设计 | 第111-116页 |
4.4.2 刃边倾斜角度的测量结果对比 | 第116-118页 |
4.4.3 调制传递函数的测试结果对比 | 第118-121页 |
4.5 本章小结 | 第121-123页 |
第5章 中波红外目标探测装置的实测实验 | 第123-143页 |
5.1 基于改进倾斜刃边法的成像系统定焦方案 | 第123-128页 |
5.2 成像系统的非均匀性校正 | 第128-133页 |
5.3 成像系统的MTF测试实验 | 第133-136页 |
5.4 成像系统的高低温测试实验 | 第136-139页 |
5.5 成像系统的MRTD测试 | 第139-140页 |
5.6 成像系统的畸变测试 | 第140-142页 |
5.7 本章小结 | 第142-143页 |
第6章 总结与展望 | 第143-147页 |
6.1 论文的研究工作总结 | 第143-145页 |
6.2 论文的创新点 | 第145-146页 |
6.3 研究展望 | 第146-147页 |
参考文献 | 第147-157页 |
在学期间学术成果情况 | 第157-159页 |
指导教师及作者简介 | 第159-161页 |
致谢 | 第161页 |