某航天产品电子箱测试系统设计与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·研究背景与意义 | 第10-13页 |
| ·电子箱简介 | 第10页 |
| ·课题的来源与研究意义 | 第10-13页 |
| ·本课题的研究进展 | 第13-14页 |
| ·本文主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 某型电子箱测试系统的总体方案 | 第16-26页 |
| ·硬件技术方案 | 第16-18页 |
| ·软件方案 | 第18-19页 |
| ·测试仪的结构方案 | 第19-20页 |
| ·整体方案 | 第20-22页 |
| ·系统的可靠性设计和抗干扰设计 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-26页 |
| 第三章 某型电子箱测试系统的硬件设计 | 第26-56页 |
| ·核心单元选型 | 第27-30页 |
| ·A/D板卡选型 | 第27-28页 |
| ·D/A板卡选型 | 第28页 |
| ·I/O板卡选型 | 第28-30页 |
| ·电源方案 | 第30页 |
| ·其他模块选型 | 第30页 |
| ·测试转接箱单元模块设计 | 第30-39页 |
| ·信号切换单元设计 | 第30-34页 |
| ·方波相移电路单元设计 | 第34-36页 |
| ·频率输出电路单元设计 | 第36-37页 |
| ·控制码发送电路 | 第37-38页 |
| ·隔离放大模块 | 第38-39页 |
| ·防错及识别电路设计 | 第39-47页 |
| ·测试电缆防差错设计 | 第41-43页 |
| ·测试接口的防错设计 | 第43-44页 |
| ·测试控制时序的防错设计 | 第44-45页 |
| ·测试输入参数防差错设计 | 第45页 |
| ·电压源电流源的输出错误自检 | 第45-47页 |
| ·测试设备自检与纠错 | 第47页 |
| ·测试接口电路设计和扩展 | 第47-54页 |
| ·测试仪接口定义 | 第47-51页 |
| ·主要性能指标 | 第51-54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 第四章 某型电子箱测试系统的软件设计 | 第56-94页 |
| ·基于Visual stdio开发环境的搭建 | 第56-61页 |
| ·基于VC++的自动测试系统软件 | 第61-66页 |
| ·自动测试系统数据库及报表 | 第66-67页 |
| ·搜索算法研究 | 第67-77页 |
| ·搜索算法分析 | 第67-69页 |
| ·调平电路搜索算分析、改进与验证 | 第69-77页 |
| ·数据采集、统计分析 | 第77-92页 |
| ·自动测试系统数据采集 | 第78-79页 |
| ·数据的自动判读与分析 | 第79-80页 |
| ·数据统计分析技术 | 第80-92页 |
| ·本章小结 | 第92-94页 |
| 第五章 某型电子箱测试系统系统验证测试 | 第94-104页 |
| ·测试系统通道标定 | 第94-99页 |
| ·主要标定对象 | 第94页 |
| ·测量通道的误差修正模型 | 第94-96页 |
| ·测试仪测量通道标定 | 第96-99页 |
| ·系统自测与验证 | 第99-102页 |
| ·直流电源测试 | 第99-100页 |
| ·交流信号源测试 | 第100-101页 |
| ·直流信号源电路测试 | 第101-102页 |
| ·本章小结 | 第102-104页 |
| 第六章 结论及展望 | 第104-106页 |
| 参考文献 | 第106-108页 |
| 致谢 | 第108-110页 |
| 个人简历、在学期间发表的论文与研究成果 | 第110页 |
