基于PIC单片机的自动化测试系统设计
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
1 绪论 | 第9-17页 |
·引言 | 第9-10页 |
·自动测试系统的关键技术 | 第10-13页 |
·总线技术 | 第10-11页 |
·软件控制技术 | 第11-12页 |
·故障诊断技术 | 第12-13页 |
·自动化测试系统组成元素 | 第13-14页 |
·自动测试的国内外发展现状 | 第14-15页 |
·本文研究的主要内容 | 第15-17页 |
2 自动测试设备 | 第17-22页 |
·自动测试设备简介 | 第17-18页 |
·FCT系统测试 | 第18-19页 |
·功能测试的分类 | 第18页 |
·功能测试的实现方法 | 第18页 |
·功能测试系统的构成 | 第18-19页 |
·ATE系统在FCT中的重要性 | 第19-20页 |
·具体获益案例 | 第20-22页 |
3 基于PIC单片机的测试架硬件设计 | 第22-34页 |
·待测模块的需求分析 | 第22-23页 |
·硬件设计介绍 | 第23-31页 |
·PIC系列单片机介绍 | 第25-26页 |
·单片机最小系统 | 第26-28页 |
·电源模块 | 第28-29页 |
·驱动电路模块 | 第29-30页 |
·放大电路模块 | 第30-31页 |
·报警电路 | 第31页 |
·天线测试 | 第31-34页 |
4 软件设计 | 第34-42页 |
·概述 | 第34页 |
·软件设计流程图 | 第34-36页 |
·相关寄存器介绍 | 第36-37页 |
·采集数据处理 | 第37-41页 |
·显示控制模块 | 第41-42页 |
5 自动测试系统的整体组装及操作 | 第42-47页 |
·自动系统测试的机械部分 | 第42-43页 |
·自动系统测试操作过程 | 第43-47页 |
6 总结与展望 | 第47-49页 |
参考文献 | 第49-51页 |
致谢 | 第51页 |