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基于PIC单片机的自动化测试系统设计

摘要第1-6页
Abstract第6-9页
1 绪论第9-17页
   ·引言第9-10页
   ·自动测试系统的关键技术第10-13页
     ·总线技术第10-11页
     ·软件控制技术第11-12页
     ·故障诊断技术第12-13页
   ·自动化测试系统组成元素第13-14页
   ·自动测试的国内外发展现状第14-15页
   ·本文研究的主要内容第15-17页
2 自动测试设备第17-22页
   ·自动测试设备简介第17-18页
   ·FCT系统测试第18-19页
     ·功能测试的分类第18页
     ·功能测试的实现方法第18页
     ·功能测试系统的构成第18-19页
   ·ATE系统在FCT中的重要性第19-20页
   ·具体获益案例第20-22页
3 基于PIC单片机的测试架硬件设计第22-34页
   ·待测模块的需求分析第22-23页
   ·硬件设计介绍第23-31页
     ·PIC系列单片机介绍第25-26页
     ·单片机最小系统第26-28页
     ·电源模块第28-29页
     ·驱动电路模块第29-30页
     ·放大电路模块第30-31页
     ·报警电路第31页
   ·天线测试第31-34页
4 软件设计第34-42页
   ·概述第34页
   ·软件设计流程图第34-36页
   ·相关寄存器介绍第36-37页
   ·采集数据处理第37-41页
   ·显示控制模块第41-42页
5 自动测试系统的整体组装及操作第42-47页
   ·自动系统测试的机械部分第42-43页
   ·自动系统测试操作过程第43-47页
6 总结与展望第47-49页
参考文献第49-51页
致谢第51页

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