| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-11页 |
| 图目录 | 第11-16页 |
| 表目录 | 第16-17页 |
| 第1章 绪论 | 第17-21页 |
| ·粒子物理与粒子物理实验 | 第17页 |
| ·高能物理电子学系统概述 | 第17-19页 |
| ·论文内容和结构 | 第19页 |
| ·论文贡献及创新点 | 第19-21页 |
| 第2章 大亚湾反应堆中微子实验 | 第21-33页 |
| ·物理背景 | 第21-23页 |
| ·中微子震荡 | 第21页 |
| ·探测量θ_(13)的物理意义 | 第21-22页 |
| ·预期科学目标 | 第22-23页 |
| ·大亚湾的总体布局 | 第23-27页 |
| ·子探测器 | 第24-25页 |
| ·中心(AD)探测器 | 第25-26页 |
| ·反符合探测器 | 第26-27页 |
| ·大亚湾电子学系统 | 第27-32页 |
| ·PMT Readout Electronic System | 第27页 |
| ·RPC Readout Electronic System | 第27-28页 |
| ·Trigger System | 第28-29页 |
| ·Clock System | 第29-30页 |
| ·DAQ System | 第30-31页 |
| ·DCS System | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 大亚湾实验PMT读出电子学(FEE) | 第33-45页 |
| ·大亚湾PMT读出电子学的设计需求 | 第33-36页 |
| ·电荷测量 | 第34-36页 |
| ·时间测量 | 第36页 |
| ·电荷测量方案 | 第36-39页 |
| ·总体设计方案 | 第36-37页 |
| ·滤波成形电路 | 第37-38页 |
| ·寻峰逻辑 | 第38-39页 |
| ·时间测量方案 | 第39-41页 |
| ·时间测量特点 | 第39页 |
| ·时间测量中的定时方法 | 第39-40页 |
| ·基于FPGA的时间测量 | 第40-41页 |
| ·FEE硬件设计 | 第41-44页 |
| ·FEE总体结构 | 第41-42页 |
| ·FEE与其他插件的信号连接 | 第42-44页 |
| ·FEE印制板 | 第44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 PMT读出电子学信号研究 | 第45-55页 |
| ·PMT读出电子学模拟 | 第45-50页 |
| ·电子学模拟的意义 | 第45页 |
| ·电了学模拟软件介绍 | 第45页 |
| ·光电倍增管信号读出 | 第45-47页 |
| ·仿真电路 | 第47-50页 |
| ·PMT读出电子学信号研究 | 第50-53页 |
| ·PMT信号测试实验 | 第50页 |
| ·PMT信号测试出现振铃现象 | 第50-51页 |
| ·PMT大振铃信号产生原因的分析 | 第51页 |
| ·PMT大振铃信号的解决方法 | 第51-53页 |
| ·实验小结 | 第53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第5章 PMT读出电子学插件(FEE)单板测试 | 第55-69页 |
| ·基本功能测试 | 第55-60页 |
| ·输入波形 | 第55-56页 |
| ·甄别器功能测试 | 第56-57页 |
| ·成形输出信号测试 | 第57页 |
| ·Esum输出信号测试 | 第57-58页 |
| ·nPMT输出信号测试 | 第58-59页 |
| ·低量程ADC台基恢复测试 | 第59-60页 |
| ·电荷测量方案 | 第60-65页 |
| ·单光电子的电荷量 | 第60-61页 |
| ·台基及RMS测量 | 第61-62页 |
| ·电荷分辨测量 | 第62-63页 |
| ·积分非线性测量 | 第63-65页 |
| ·FEE时间测量方案 | 第65-66页 |
| ·通道间串扰测试 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-69页 |
| 第6章 PMT读出电子学小系统联调 | 第69-83页 |
| ·PMT读出电子学小系统 | 第69-72页 |
| ·小系统介绍 | 第69-70页 |
| ·小系统DAQ | 第70-71页 |
| ·小系统数据格式 | 第71-72页 |
| ·小系统FEE调试 | 第72-75页 |
| ·FEE电子学诊断模式 | 第72-74页 |
| ·FEE台阶模式 | 第74-75页 |
| ·小系统联调 | 第75-82页 |
| ·FEE与LTB测试 | 第75-78页 |
| ·FEE与FADC测试 | 第78-80页 |
| ·小系统CBLT测试 | 第80-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 第7章 PMT读出电子学模型探测器验证 | 第83-97页 |
| ·中微子模型探测器 | 第83-87页 |
| ·中微子模型探测器系统 | 第83-84页 |
| ·模型探测器PMT读出电子学系统 | 第84-86页 |
| ·探测器刻度与监测 | 第86-87页 |
| ·模型探测器系统测试 | 第87-94页 |
| ·模型探测器FEE捅件测试 | 第87-89页 |
| ·模型探测器小系统测试 | 第89-92页 |
| ·模型探测器PMT/放射源测试 | 第92-94页 |
| ·模型探测器研究成果 | 第94-95页 |
| ·本章小结 | 第95-97页 |
| 第8章 PMT读出电子学DryRun实验应用及研究 | 第97-117页 |
| ·大亚湾DryRun实验 | 第97-99页 |
| ·AD MiniDryRun实验 | 第97-98页 |
| ·AD DryRun实验 | 第98-99页 |
| ·Dryrun实验PMT读出电子学系统应用 | 第99-101页 |
| ·PMT读出电子学 | 第99-100页 |
| ·光电倍增管 | 第100-101页 |
| ·中心探测器 | 第101页 |
| ·小结 | 第101页 |
| ·DryRun实验FEE读出窗口研究 | 第101-111页 |
| ·FEE读出窗口 | 第102页 |
| ·FEE读出窗口配置对物理事例的影响 | 第102-106页 |
| ·FEE 1.2us读出窗口的应用 | 第106-110页 |
| ·小结 | 第110-111页 |
| ·DryRun实验FADC分析 | 第111-112页 |
| ·FADC数据检查 | 第111页 |
| ·FADC动态范围 | 第111-112页 |
| ·基于DryRun实验的触发效率研究 | 第112-116页 |
| ·研究的意义 | 第112页 |
| ·实验方法 | 第112-113页 |
| ·触发效率的计算方法 | 第113-116页 |
| ·影响触发效率的因素 | 第116页 |
| ·触发效率研究小结 | 第116页 |
| ·本章小结 | 第116-117页 |
| 第9章 总结 | 第117-119页 |
| 参考文献 | 第119-123页 |
| 发表文章 | 第123-125页 |
| 致谢 | 第125-127页 |
| 附录 | 第127-138页 |
