| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 1 绪论 | 第7-12页 |
| ·过程层析成像技术概述 | 第7-10页 |
| ·过程层析成像技术的现状 | 第7-9页 |
| ·过程层析成像技术的发展趋势 | 第9-10页 |
| ·电容层析成像技术概况 | 第10-11页 |
| ·电容层析成像技术的发展 | 第10页 |
| ·ECT技术存在的难点 | 第10-11页 |
| ·本文主要工作 | 第11-12页 |
| 2 电容层析成像系统 | 第12-16页 |
| ·电容层析成像系统的组成 | 第12-14页 |
| ·电容传感器 | 第12-13页 |
| ·数据采集系统 | 第13页 |
| ·图像重建系统 | 第13-14页 |
| ·电容层析成像系统的基本数学原理 | 第14-16页 |
| 3 电容层析成像系统硬件电路设计 | 第16-32页 |
| ·微小电容测量电路设计 | 第16-25页 |
| ·ECT系统中电容检测的难点 | 第16-17页 |
| ·几种常见的微小电容检测电路 | 第17-19页 |
| ·本系统中微小电容检测电路设计 | 第19-23页 |
| ·电容检测电路主要参数的确定 | 第23-25页 |
| ·ECT系统的组合电容传感器设计 | 第25-27页 |
| ·A/D转换和数据通讯 | 第27-32页 |
| ·A/D转换和数据通讯的硬件电路设计 | 第28-29页 |
| ·上位机软件实现 | 第29-32页 |
| 4 组合电容法的提出及其控制电路的实现 | 第32-41页 |
| ·组合电容法检测原理 | 第32-34页 |
| ·组合阵列电极控制电路设计 | 第34-41页 |
| ·模拟开关网络 | 第35-37页 |
| ·单片机控制实现 | 第37-41页 |
| 5 有限元法求解敏感场 | 第41-54页 |
| ·电容传感器敏感场函数 | 第41-42页 |
| ·有限元技术概述 | 第42-43页 |
| ·ECT的有限元建模 | 第43-47页 |
| ·确定泛函 | 第43-44页 |
| ·场域剖分及系统方程推导 | 第44-47页 |
| ·Ansys求解ECT系统敏感场 | 第47-54页 |
| ·Ansys求解各节点电压 | 第48-51页 |
| ·敏感场值求解 | 第51-54页 |
| 6 基于迭代优化修正的Tikhonov正则化算法的图像重建 | 第54-61页 |
| ·ECT系统逆问题的Tikhonov正则化法求解 | 第54-55页 |
| ·迭代优化修正的Tikhonov正则化算法的图像重建 | 第55-57页 |
| ·实验结果 | 第57-61页 |
| ·基于组合电容法的ECT系统重建图像实验结果 | 第58-59页 |
| ·基于迭代优化修正的Tikhonov正则化算法的图像重建实验结果 | 第59-61页 |
| 7 结论 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 附录A | 第66-67页 |
| 附录B | 第67-68页 |
| 附录C | 第68页 |
