非金属管状部件几何尺寸检测技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题研究背景以及相关理论 | 第9-11页 |
| ·尺寸检测研究背景 | 第9-10页 |
| ·非接触测量的研究方法 | 第10页 |
| ·非接触测量的国内外发展现状 | 第10-11页 |
| ·线阵 CCD 尺寸测量的应用方法概述 | 第11-13页 |
| ·课题研究目的、理论意义和实际应用价值 | 第13页 |
| ·本论文所要进行的工作 | 第13-15页 |
| 第二章 测量系统总体方案的设计及工作原理 | 第15-20页 |
| ·CCD 检测方案的确定 | 第15-17页 |
| ·测量系统的总体结构框架及功能分析 | 第17-18页 |
| ·线阵 CCD 传感器的工作原理及特性 | 第18-20页 |
| 第三章 测量系统硬件电路设计 | 第20-41页 |
| ·硬件部分总体设计及工作原理 | 第20-21页 |
| ·驱动模块的设计 | 第21-26页 |
| ·TCD132D 结构及其工作原理 | 第21-24页 |
| ·CCD 驱动时序脉冲电路工作过程分析 | 第24-25页 |
| ·TCD132D 驱动时序电路的设计 | 第25-26页 |
| ·CCD 光积分时间控制电路 | 第26页 |
| ·A/D 转换模块的设计 | 第26-31页 |
| ·数据放大电路的设计 | 第27页 |
| ·A/D 转换芯片的选择 | 第27-29页 |
| ·TLC5510 的工作原理 | 第29页 |
| ·数据采集总体设计 | 第29-30页 |
| ·CPLD 对 A/D 转换的控制 | 第30-31页 |
| ·RAM 模块的设计 | 第31-34页 |
| ·RAM 芯片的选取 | 第31-33页 |
| ·CPLD 对 RAM 的读写控制 | 第33-34页 |
| ·单片机软件及接口设计 | 第34-39页 |
| ·C8051F340 简介 | 第34-35页 |
| ·单片机工作流程及设计 | 第35-39页 |
| ·照明系统的设计 | 第39-41页 |
| ·光源的选择 | 第39页 |
| ·照明系统的设计 | 第39-41页 |
| 第四章 图像处理算法的实现 | 第41-55页 |
| ·图像处理技术概述 | 第41页 |
| ·处理算法流程分析及实验结果初步分析 | 第41-44页 |
| ·算法设计总体框架 | 第41-42页 |
| ·线性 CCD 信号的特点及实验结果的初步分析 | 第42-44页 |
| ·图像分析及图像预处理 | 第44-51页 |
| ·几何变换 | 第44-45页 |
| ·生成并绘制图像的直方图 | 第45-47页 |
| ·图像的平滑处理 | 第47-50页 |
| ·图像二值化 | 第50-51页 |
| ·边缘检测 | 第51-55页 |
| ·迭代法的边缘分割 | 第53-55页 |
| 第五章 尺寸测量与缺陷检测的简要分析 | 第55-59页 |
| ·尺寸测量 | 第55-56页 |
| ·长度和外径的计算 | 第55-56页 |
| ·缺陷检测 | 第56-57页 |
| ·实验结果及误差分析 | 第57-59页 |
| 第六章 总结和展望 | 第59-61页 |
| ·本论文完成的主要工作 | 第59页 |
| ·本课题今后的研究及扩展方向 | 第59-61页 |
| 附录 1 | 第61-62页 |
| 附录 2 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
