元器件表面缺陷检测算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题的研究背景 | 第10页 |
| ·课题的国内外研究现状 | 第10-14页 |
| ·机器视觉的发展 | 第10-11页 |
| ·机器视觉系统在外观检测上的应用 | 第11-12页 |
| ·主流设备介绍 | 第12-14页 |
| ·论文安排 | 第14-16页 |
| 第二章 元器件的外观缺陷分类 | 第16-21页 |
| ·元器件基本类型及发展状况 | 第16-17页 |
| ·元器件表面缺陷 | 第17-19页 |
| ·元器件缺陷分类 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 检测方法与理论 | 第21-36页 |
| ·图像滤波 | 第21-25页 |
| ·多级中值滤波器 | 第21-24页 |
| ·高斯滤波 | 第24-25页 |
| ·图像分割 | 第25-29页 |
| ·图像分割定义 | 第25-26页 |
| ·阈值分割 | 第26-28页 |
| ·基于边缘检测的图像分割 | 第28-29页 |
| ·形态学 | 第29-32页 |
| ·膨胀(Dilation) | 第29-30页 |
| ·腐蚀(Erosion) | 第30-31页 |
| ·开操作与闭操作 | 第31-32页 |
| ·区块分析（BLOB ANALYSIS） | 第32-34页 |
| ·区块分析的理论基础 | 第32-33页 |
| ·区块分析在缺陷检测中的应用 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第四章 边缘检测算法 | 第36-58页 |
| ·基于 CANNY 算子的多尺度边缘检测算法 | 第36-43页 |
| ·传统的 Canny 边缘检测算法 | 第36-39页 |
| ·基于 Canny 算子的多尺度加权边缘检测算法 | 第39-42页 |
| ·结果验证 | 第42-43页 |
| ·基于 B 样条小波的多尺度积边缘检测 | 第43-50页 |
| ·小波分析 | 第43-46页 |
| ·B 样条小波 | 第46-50页 |
| ·基于 SUSAN 算子的边缘检测算法 | 第50-55页 |
| ·SUSAN 算子原理 | 第50-51页 |
| ·自适应阈值的 SUSAN 边缘检测算法 | 第51-55页 |
| ·三种检测算法比较 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 片式元件缺陷分类识别 | 第58-65页 |
| ·片式元件检测流程 | 第58-63页 |
| ·图像预处理 | 第58-59页 |
| ·电极端处理 | 第59-60页 |
| ·陶瓷体处理 | 第60-61页 |
| ·电极表面瑕疵检测 | 第61-62页 |
| ·元件陶瓷体表面瑕疵检测 | 第62-63页 |
| ·实验结果分析 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 附件 | 第69页 |
