| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-30页 |
| ·课题的来源、背景及意义 | 第14-17页 |
| ·光学体全息存储和识别的发展现状 | 第17-20页 |
| ·光折变晶体材料 | 第20-22页 |
| ·铌酸锂晶体的研究 | 第22-28页 |
| ·铌酸锂晶体的结构 | 第22-23页 |
| ·铌酸锂晶体的制备方法 | 第23-26页 |
| ·铌酸锂晶体的改性 | 第26-28页 |
| ·本课题的主要研究内容 | 第28-30页 |
| 第2章 光折变体全息存储的基本理论及方法 | 第30-50页 |
| ·光折变体全息存储理论 | 第30-37页 |
| ·光折变动力学方程 | 第30-31页 |
| ·一般耦合波理论 | 第31-35页 |
| ·动态耦合波理论 | 第35-37页 |
| ·光栅固定技术 | 第37-41页 |
| ·热固定技术 | 第37-38页 |
| ·电固定技术 | 第38页 |
| ·双光子固定技术 | 第38-41页 |
| ·复用技术 | 第41-47页 |
| ·空间复用技术 | 第42页 |
| ·角度复用技术 | 第42-45页 |
| ·分维角度复用技术 | 第45-47页 |
| ·衍射效率均匀化 | 第47-49页 |
| ·顺序曝光法 | 第48页 |
| ·增量曝光法 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第3章 掺杂铌酸锂晶体的全息存储热固定技术 | 第50-76页 |
| ·热固定方法 | 第50页 |
| ·掺杂铌酸锂晶体光栅热固定理论 | 第50-57页 |
| ·热固定动力学基础 | 第51-53页 |
| ·热固定定影阶段(态I) | 第53-55页 |
| ·热固定显影阶段(态II) | 第55-56页 |
| ·显影后的衰减阶段(态III) | 第56-57页 |
| ·参数对掺杂铌酸锂晶体全息存储热固定后衍射效率的影响 | 第57-65页 |
| ·各种参数和固定后衍射效率的关系 | 第58-63页 |
| ·实验 | 第63-65页 |
| ·分批热固定 | 第65-74页 |
| ·分批热固定的过程 | 第66-67页 |
| ·分批热固定过程的理论分析 | 第67-69页 |
| ·批间光擦除时间特性 | 第69-70页 |
| ·批内光擦除时间特性 | 第70页 |
| ·分批热固定存储的等衍射效率曝光问题 | 第70-72页 |
| ·等衍射效率的实验验证 | 第72-74页 |
| ·本章小结 | 第74-76页 |
| 第4章 光折变体全息相关识别系统的研究 | 第76-101页 |
| ·光学相关模式识别介绍 | 第76-78页 |
| ·体全息相关识别原理 | 第78-87页 |
| ·基于薄晶体的相关识别系统的位移不变性 | 第81-85页 |
| ·基于厚晶体的相关识别系统的噪声抑制 | 第85-87页 |
| ·体全息相关识别系统的研究 | 第87-100页 |
| ·实时人耳识别 | 第88-94页 |
| ·静态图像识别 | 第94-100页 |
| ·本章小结 | 第100-101页 |
| 第5章 光折变体全息相关识别系统的一些改进 | 第101-125页 |
| ·可携式相关识别系统的研究 | 第101-109页 |
| ·光路设计 | 第101-102页 |
| ·识别系统单元器件的介绍 | 第102-105页 |
| ·可携式识别系统的实验结果 | 第105-109页 |
| ·分维角度-空间复用方法 | 第109-113页 |
| ·原理 | 第110-111页 |
| ·曝光时序的确定 | 第111-112页 |
| ·实验和结果 | 第112-113页 |
| ·超并行体全息相关识别系统的研究 | 第113-124页 |
| ·实验光路 | 第114页 |
| ·光致散射的抑制 | 第114-116页 |
| ·Zn离子掺杂浓度对存储性能的影响 | 第116-117页 |
| ·Mn离子的掺杂浓度和氧化态对存储性能的影响 | 第117-119页 |
| ·曝光时序的确定 | 第119-121页 |
| ·实验参数的确定 | 第121-123页 |
| ·实验和结果 | 第123-124页 |
| ·本章小结 | 第124-125页 |
| 结论 | 第125-126页 |
| 参考文献 | 第126-135页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第135-138页 |
| 致谢 | 第138-139页 |
| 个人简历 | 第139页 |