摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·天线近场测量综述 | 第7-9页 |
·近场测量技术 | 第7页 |
·近场测量的特点 | 第7-8页 |
·近场测量技术的发展动态 | 第8-9页 |
·运动控制系统的基本概念 | 第9页 |
·运动控制系统的概念 | 第9页 |
·运动控制系统的基本结构 | 第9页 |
·Delphi 环境下基于PMAC 的控制系统 | 第9-10页 |
·面向对象的Delphi 语言 | 第9-10页 |
·PMAC 可编程多轴控制卡 | 第10页 |
·选题背景及意义 | 第10-11页 |
·论文的主要工作及内容安排 | 第11-13页 |
第二章 天线测量的基本理论 | 第13-19页 |
·天线场区划分 | 第13页 |
·天线测量方法分类 | 第13-15页 |
·天线基本参量的测量 | 第15-19页 |
·方向图的测量 | 第15-16页 |
·增益的测量 | 第16-19页 |
第三章 平面近场扫描技术 | 第19-25页 |
·扫描取样间距的选取原则 | 第19-20页 |
·扫描面宽度的选择原则 | 第20-21页 |
·待测天线口径面与扫描面之间距离的选取原则 | 第21页 |
·近场测量数据二维Fourier 变换计算 | 第21-25页 |
第四章 基于Delphi 的近场测量控制系统界面设计 | 第25-43页 |
·系统软件 | 第25-26页 |
·Delphi 语言 | 第26-27页 |
·控制界面设计要求 | 第27-28页 |
·近场测量控制界面的设计 | 第28-43页 |
第五章 基于PMAC 多轴控制卡的近场定位控制 | 第43-53页 |
·闭环与半闭环控制系统概念 | 第43-45页 |
·闭环控制系统 | 第43-44页 |
·半闭环控制系统 | 第44-45页 |
·PMAC 多轴控制卡 | 第45-46页 |
·PMAC 语言 | 第46-48页 |
·基于 PMAC 控制卡的定位控制流程 | 第48-53页 |
第六章 总结 | 第53-55页 |
致谢 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |
研究成果 | 第59-60页 |