| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-17页 |
| ·金属铀在空气中的氧化反应及动力学研究的历史和现状 | 第8-13页 |
| ·金属铀在空气中的氧化行为 | 第8-10页 |
| ·金属铀在空气中的氧化动力学 | 第10-13页 |
| ·椭偏仪研究氧化动力学的现状 | 第13-16页 |
| ·金属氧化的测试方法 | 第13-14页 |
| ·椭偏仪对于材料氧化动力学的研究 | 第14-15页 |
| ·对椭偏仪研究现状的分析 | 第15-16页 |
| ·小结 | 第16-17页 |
| 第二章 椭圆偏振技术介绍 | 第17-28页 |
| ·椭圆偏振技术测试原理 | 第17-19页 |
| ·椭圆偏振光谱仪的测量 | 第19-22页 |
| ·椭圆偏振仪的组成 | 第19-20页 |
| ·椭圆偏振技术的分析 | 第20-22页 |
| ·测量薄膜折射率和厚度的方法及椭偏法测试的优势 | 第22页 |
| ·M-2000V型椭偏仪 | 第22-27页 |
| ·M-2000V型椭偏仪的组成及测试过程 | 第22-24页 |
| ·椭偏仪不确定度分析 | 第24-27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 第三章 实验部分 | 第28-39页 |
| ·试样与试剂 | 第28页 |
| ·实验仪器与装置 | 第28-29页 |
| ·前期工作 | 第29-37页 |
| ·表面氧化层厚度测试 | 第29-33页 |
| ·各种因素对测量厚度的影响 | 第33-37页 |
| ·前期工作小结 | 第37页 |
| ·实验方法 | 第37-39页 |
| ·试样处理 | 第37页 |
| ·实验条件 | 第37页 |
| ·实验步骤 | 第37-39页 |
| 第四章 铀在纯氧中的氧化动力学研究 | 第39-54页 |
| ·贫铀及其氧化物光学常数测试 | 第39-43页 |
| ·贫铀基底n、k值测定 | 第39-40页 |
| ·贫铀表面氧化层n、k值测定 | 第40-42页 |
| ·室温下贫铀表面氧化层厚度 | 第42-43页 |
| ·高碳铀在5000Pa纯氧中的氧化动力学 | 第43-51页 |
| ·高碳铀基底n、k值的测定 | 第43-44页 |
| ·高碳铀在低温、纯氧中的氧化反应 | 第44-46页 |
| ·高碳铀在5000Pa纯氧气氛中表面氧化层厚度测试 | 第46-48页 |
| ·温度对氧化动力学的影响 | 第48-51页 |
| ·氧气压力对铀在纯氧中氧化的影响 | 第51-52页 |
| ·铀氧化层厚度与颜色的关系 | 第52-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 第五章 结论 | 第54-56页 |
| 可进一步开展的工作 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 论文的创新点 | 第62-63页 |
| 附录 | 第63页 |