| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| ·引言 | 第11-12页 |
| ·颗粒阻尼技术研究的历史和现状 | 第12-14页 |
| ·颗粒阻尼技术有待解决的几个问题 | 第14页 |
| ·本文主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 恢复力曲面法原理 | 第16-29页 |
| ·引言 | 第16页 |
| ·一般恢复力曲面法基本原理 | 第16-20页 |
| ·单自由度系统的直接参数估计 | 第20-21页 |
| ·绘制恢复力曲面 | 第21-24页 |
| ·Grawley-O’Donnell 法绘制恢复力曲面 | 第21-23页 |
| ·恢复力曲面的剖面 | 第23-24页 |
| ·针对颗粒阻尼系统的恢复力曲面法 | 第24-27页 |
| ·颗粒阻尼器等效阻尼比的计算 | 第27-29页 |
| 第三章 试验数据的处理方法和恢复力曲面法程序的编写 | 第29-40页 |
| ·滤波 | 第29-30页 |
| ·数值积分和微分 | 第30-37页 |
| ·时域上的数值积分 | 第30-35页 |
| ·时域上的数值微分 | 第35-37页 |
| ·恢复力曲面法程序的编写 | 第37-40页 |
| 第四章 颗粒阻尼器等效阻尼比的辨识 | 第40-60页 |
| ·试验设备及试验过程 | 第40-42页 |
| ·试验模型和设备 | 第40-41页 |
| ·试验过程 | 第41-42页 |
| ·恢复力曲面法程序准确性的验证 | 第42-44页 |
| ·颗粒阻尼器等效阻尼比的辨识 | 第44-59页 |
| ·验证改进后的恢复力曲面法和改进前的一般方法的优劣 | 第44-45页 |
| ·同一个颗粒阻尼器在不同的激振力功率下的等效阻尼比 | 第45-49页 |
| ·相同的填充率和颗粒体几何尺寸，不同的填充质量，颗粒阻尼器的等效阻尼比的关系 | 第49-52页 |
| ·相同的颗粒填充率和填充质量，不同的颗粒体几何尺寸，颗粒阻尼器的等效阻尼比的关系 | 第52-54页 |
| ·相同的填充质量和填充颗粒体几何尺寸，不同的填充率，颗粒阻尼器等效阻尼比的关系 | 第54-59页 |
| ·结论 | 第59-60页 |
| 第五章 工作总结与展望 | 第60-62页 |
| 工作总结 | 第60页 |
| 工作展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第65页 |
