TR管的高功率微波效应研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
第一章 引言 | 第8-12页 |
·“前门”耦合效应及接收机保护发展态势 | 第8-10页 |
·论文安排及创新点 | 第10-12页 |
第二章 TR管的冷腔计算和边带泄漏机理研究 | 第12-35页 |
·气体放电管概述 | 第12-13页 |
·气体放电器的结构 | 第13页 |
·TR管的放电特性 | 第13-15页 |
·在CST中建模 | 第15-21页 |
·仿真步骤及结果 | 第16-21页 |
·TR管带外泄漏的机理研究 | 第21-23页 |
·不同谐振隙结构的隙间电场强度分析 | 第23-30页 |
·寄生通带内的场强分布以及隙间场强 | 第30-35页 |
·第一寄生通带内的场强分布和场强因子 | 第32-33页 |
·第二寄生通带内的隙间场强和场强因子 | 第33-35页 |
第三章 击穿时间与恢复时间的理论分析 | 第35-59页 |
·击穿场强和着火功率的计算 | 第35-40页 |
·击穿时间的计算 | 第40-43页 |
·天线开关中微波气体放电的功率损耗 | 第43-48页 |
·恢复时间的计算 | 第48-50页 |
·CST中模拟谐振隙间导电过程 | 第50-54页 |
·验证等离子体对入射波的反射 | 第54-59页 |
第四章 实验结果与分析 | 第59-76页 |
·实验依据及条件 | 第59-61页 |
·带内实验结果 | 第61-66页 |
·带外实验 | 第66-73页 |
·下边带实验 | 第66-68页 |
·上边带实验 | 第68-73页 |
·泄漏功率和重频的关系 | 第73-76页 |
第五章 结束语 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-79页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第79页 |