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TR管的高功率微波效应研究

摘要第1-5页
Abstract第5-8页
第一章 引言第8-12页
   ·“前门”耦合效应及接收机保护发展态势第8-10页
   ·论文安排及创新点第10-12页
第二章 TR管的冷腔计算和边带泄漏机理研究第12-35页
   ·气体放电管概述第12-13页
   ·气体放电器的结构第13页
   ·TR管的放电特性第13-15页
   ·在CST中建模第15-21页
     ·仿真步骤及结果第16-21页
   ·TR管带外泄漏的机理研究第21-23页
   ·不同谐振隙结构的隙间电场强度分析第23-30页
   ·寄生通带内的场强分布以及隙间场强第30-35页
     ·第一寄生通带内的场强分布和场强因子第32-33页
     ·第二寄生通带内的隙间场强和场强因子第33-35页
第三章 击穿时间与恢复时间的理论分析第35-59页
   ·击穿场强和着火功率的计算第35-40页
   ·击穿时间的计算第40-43页
   ·天线开关中微波气体放电的功率损耗第43-48页
   ·恢复时间的计算第48-50页
   ·CST中模拟谐振隙间导电过程第50-54页
   ·验证等离子体对入射波的反射第54-59页
第四章 实验结果与分析第59-76页
   ·实验依据及条件第59-61页
   ·带内实验结果第61-66页
   ·带外实验第66-73页
     ·下边带实验第66-68页
     ·上边带实验第68-73页
   ·泄漏功率和重频的关系第73-76页
第五章 结束语第76-77页
致谢第77-78页
参考文献第78-79页
攻硕期间取得的研究成果第79页

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