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矩形平面靶磁场分析及薄膜厚度模拟

独创性声明第1页
学位论文版权使用授权书第3-4页
摘要第4-5页
Abstract第5-10页
第一章 绪论第10-20页
   ·课题研究的目的和意义第10页
   ·课题的研究现状第10-18页
     ·靶设计的研究现状第11-17页
     ·薄膜厚度均匀性的研究现状第17-18页
   ·课题的来源及研究内容第18-20页
     ·课题的来源第18-19页
     ·课题的研究内容第19-20页
第二章 实验设备及原理第20-28页
   ·溅射原理第20-23页
     ·辉光放电第20-22页
     ·溅射特性第22-23页
   ·溅射薄膜形成过程第23-24页
   ·实验设备及工艺第24-28页
     ·ITO镀膜玻璃生产线及工作原理第24-26页
     ·超高真空磁控与离子束联合溅射系统第26-28页
第三章 矩形平面靶磁场分析第28-49页
   ·经典设计存在的问题第28-30页
   ·靶分析和设计的通用方法第30-31页
   ·物理模型第31-32页
     ·靶的结构第31页
     ·物理模型的建立第31-32页
   ·数学模型第32-33页
     ·基本方程第32页
     ·标量磁位第32-33页
     ·边界条件第33页
   ·有限元法离散化处理第33-36页
   ·磁感应强度的计算第36页
   ·用ANSYS软件进行磁场计算第36-37页
   ·计算结果分析第37-40页
     ·磁钢对靶面磁场强度的影响第38-39页
     ·导磁片对靶面磁场强度的影响第39-40页
   ·测试结果分析第40-47页
     ·磁钢结构第40-41页
     ·测试结果第41-45页
     ·实验结果第45-47页
   ·本章小结第47-49页
第四章 薄膜厚度分布的模拟第49-65页
   ·膜厚分布的模型第49-52页
     ·膜厚分布的物理模型第49-50页
     ·膜厚分布的数学模型第50-51页
     ·模型缺点分析第51-52页
   ·分析与讨论第52-58页
   ·实验数据与处理第58-64页
     ·实验装置与样品制备第58页
     ·薄膜厚度测量第58-59页
     ·片内均匀性第59-60页
     ·片间均匀性第60-62页
     ·批次间均匀性第62-64页
   ·本章小结第64-65页
第五章 结论第65-66页
参考文献第66-68页
致谢第68页

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