| 引言 | 第1-13页 |
| 第一章 THz辐射的基本性质和应用 | 第13-21页 |
| 第一节 THz辐射的基本性质 | 第13-14页 |
| 第二节 THz辐射的应用技术 | 第14-19页 |
| 2．1 THz技术作为材料的分析和测试手段 | 第14-16页 |
| 2．2 THz成像技术 | 第16-17页 |
| 2．3 应用THz“雷达”技术进行敏感探测 | 第17-19页 |
| 第三节 THz技术存在的问题 | 第19-21页 |
| 第二章 THz时域光谱(TDS)系统 | 第21-42页 |
| 第一节 THz波发射和探测的方法及原理 | 第21-27页 |
| 1．1 THz波发射的方法及原理 | 第21-24页 |
| 1．2 THz波探测的方法及原理 | 第24-27页 |
| 第二节 THz时域光谱系统的建立 | 第27-37页 |
| 2．1 反射式InAs发生器光谱实验系统的搭建 | 第27-31页 |
| 2．2 反射式THz发射系统光路优化 | 第31-34页 |
| 2．3 透射式THz发射系统的搭建及光路优化 | 第34-37页 |
| 2．4 系统性能的评定指标 | 第37页 |
| 第三节 天线发射极发射THz峰值信号与偏置电压的关系 | 第37-41页 |
| 第四节 低温砷化镓与半绝缘砷化镓产生THz电磁场的特性比较 | 第41-42页 |
| 第三章 THz时间分辨光谱测量 | 第42-52页 |
| 第一节 实验系统、原理和测量 | 第42-44页 |
| 第二节 时间分辨光谱测量结果及相关分析 | 第44-52页 |
| 第四章 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 在学期间发表及待发表的学术论文 | 第57-58页 |