微波暗室天线自动化测试系统及误差分析
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-6页 |
| 1 绪论 | 第6-10页 |
| ·论文的工作背景 | 第6页 |
| ·基本概念 | 第6-8页 |
| ·本论文的工作 | 第8-10页 |
| 2 近场方法测天线方向图 | 第10-37页 |
| ·近场测量的优缺点 | 第11-12页 |
| ·近场测量的国内外发展 | 第12-16页 |
| ·国外近场扫描测量的研究 | 第13-16页 |
| ·国内近场扫描测量的研究 | 第16页 |
| ·近场测试系统 | 第16-27页 |
| ·系统介绍 | 第16-18页 |
| ·系统仪器及其指标 | 第18-23页 |
| ·系统工作原理 | 第23-27页 |
| ·系统近远场变换 | 第27-33页 |
| ·综合平面波理论 | 第27-29页 |
| ·平面近场测量的基本理论 | 第29-31页 |
| ·数据变换流程图 | 第31-33页 |
| ·误差分析 | 第33-35页 |
| ·多次反射误差和环境误差的修正 | 第33-35页 |
| ·随机误差的消除 | 第35页 |
| ·测试参数的选取和测试步骤 | 第35-37页 |
| 3 远场测量天线方向图 | 第37-44页 |
| ·远场测量最小距离 | 第37-40页 |
| ·收发天线一付为弱方向性，一付为强方向性 | 第37-38页 |
| ·收发天线均为强方向性天线 | 第38-39页 |
| ·收发天线均为弱方向性天线 | 第39-40页 |
| ·远场测试系统原理 | 第40-41页 |
| ·远场误差分析 | 第41-44页 |
| ·有限距离的影响 | 第41-42页 |
| ·测试环境的影响 | 第42页 |
| ·方向图角度误差 | 第42-44页 |
| 4 天线增益测量 | 第44-50页 |
| ·用方向图计算天线增益 | 第44-48页 |
| ·增益与方向图的关系 | 第44-47页 |
| ·增益计算结果 | 第47-48页 |
| ·比较法测量天线增益 | 第48-50页 |
| ·近场测量天线增益 | 第48页 |
| ·远场测量天线增益 | 第48-50页 |
| 5 结束语 | 第50-51页 |
| 攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-54页 |
